超大规模集成电路论文

用于可测试性 BIST 设计的低功耗技术
一、BIST可测性设计的低功耗技术（论文文献综述）李佳[1]（2020）在《基于扫描链和ATPG的低功耗可测性设计的研究与实现》文中研究表明伴随着半导体工艺制造水平的不断进步,...