一、光谱分析中的增量法（论文文献综述）
吴育良,俞斌,周天彤[1]（1996）在《火焰原子吸收光谱分析多元干扰体系中干扰效应的计算消除方法研究──Ⅰ.多元混合干扰效应的数学表达及算法》文中指出研究了火焰原子吸收光谱分析中多元混合干扰效应的计算消除方法．提出用多项式作为定量描述主测元素与干扰元素之间关系的通用数学模型，并对计算机自动寻找适宜的数学模型作了探讨。运用和尝试了一种新的下降算法──搜索法。本文是对多元统计方法在原子光谱分析中的应用的探索。在对多组分体系进行分析时，利用其元素间相互干扰时所形成的体系总吸光度与各组分浓度间的函数关系，用增量法去形成所需的系数矩阵，从而实现了在单波长处进行多元统计分析。
王滔,谷家骕,陈复生[2]（1993）在《线宽增量法及其在生物材料发射光谱分析中的应用》文中进行了进一步梳理作者利用交流电弧和光栅摄谱仪组装了能够绘制谱线轮廓曲线和准确测定谱线宽度的记录仪,用线宽增量法对生物材料（拟血清）中的主要成分Ca和微量元素Cu进行了测定。与黑度法相比,本实验结果的线性好,误差小,再现性有所提高。这些结果表明,用上述仪器装置和线宽增量法进行生物材料含量分析优于黑度法。
石慧[3]（2015）在《XRF测定铁矿石品位及其中稀土元素含量的方法技术研究》文中提出铁矿石作为钢铁行业中的重要生产原料,其品质直接影响到产品的质量。因此,对铁矿石品质进行快速、精准的检测分析非常重要。与此同时,稀土元素在钢铁生产中起到了脱氧剂和脱硫剂的作用,并且还能消除或减弱其他有害杂质对钢铁质量的影响。在包钢选矿厂的铁矿石中,稀土元素是重要的伴生元素,是铁矿石生产的重要副产品。因此,稀土元素的测定在钢铁及冶金行业中也是重要检测项目。本文在基于能量色散X荧光分析原理,对包钢选矿厂的铁矿石样品进行铁品位的测定并对其中稀土元素进行分量测量。基于WDXRF对包钢选矿厂铁矿石样品进行定性分析,确定待测样品中是否含有稀土元素La和Ce。通过对能量色散X射线荧光分析仪（IED-2000T型多元素快速分析仪）的最佳测量条件进行分析讨论,并计算出相应的检出限和精密度,确定IED-2000T型多元素快速分析仪可对铁矿石中稀土元素进行分量测量。利用增量法和计数率法对铁矿石中的稀土元素La和Ce进行了分量测量,将EDXRF测定值与参考值作对比计算两种方法间的相对误差。利用EDXRF分析技术对铁矿石的品质进行检测,计算其测量精密度,并将实验测量结果与化学分析值作对比计算相对误差,使得测量分析的结果更具可靠性和真实性。通过以上研究分析,取得的主要成果有:（1）对铁矿石样品中稀土元素La和Ce进行测量时,为使能量色散X射线荧光分析仪达到最优的测量效果,对最佳测量条件的选取作了相关的研究分析。利用峰背比法对仪器的最佳测量条件进行选取,确定了最佳管电压为14k V、最佳管电流为17μA;（2）稀土元素La和Ce采用增量法分析,将增量法测得的分析值与参考值作对比,分析其方法准确度,计算出其相对误差在-77%之间,平均相对误差分别为6.4%和5.32%;对同一样品重复测量计算出稀土元素La和Ce的方法精密度分别为2.8%和2.3%,并计算出稀土元素La和Ce的方法检出限分别为223ug/g、499ug/g;（3）运用计数率法对铁矿石样品中稀土元素La和Ce进行测量,将其结果与参考值进行对比相对误差分别在-99%和-98%之间;（4）在利用计数率法测定铁矿石中Fe元素的含量时,将其分析测量值与化学分析值进行对比计算其平均相对误差均在1.53%以下,并对同一样品重复测量计算方法精密度为0.4%。研究表明,EDXRF分析法可快速、精准、无损的检测铁矿石样品中稀土元素La和Ce,并能对铁矿石的品质进行快速、精准的检测。本文利用XRF分析技术对包钢选矿厂铁矿石样品中的铁品位及稀土元素的含量作了较为全面的研究分析,取得了良好的效果,其各项基本指标（如:准确度、精密度及检出限等）均满足生产要求,为今后开展更为广泛的研究和应用奠定了一定的基础,并对同类仪器在其它领域的应用也具有相应的指导作用。
王婷婷[4]（2011）在《发射光谱仪中光谱干扰校正方法的应用和研究》文中认为ICP发射光谱仪是一款利用发射光谱学的原理和方法对待测样品进行相关指标（如浓度等）精确测定的实验室分析仪器。ICP-OES技术最初的应用集中在冶金,地质,工矿,石化等行业,用于检测矿物质或其加工制品中各种痕量元素的含量,以确定上述物质的物化特性以及确定再度加工的方法。目前随着ICP-OES技术检测能力的进一步提高,其应用已扩展到生命科学,环保检测,食品安全,有机物分析等领域,可以达到更高的检测灵敏度和更低的检测下限。从仪器性能来看,提高检测灵敏度,达到更低的检出限和实现更好的稳定性始终是光谱仪器追求的目标。制约上述目标实现的主要因素是测试过程中的光谱干扰和非光谱干扰,上述干扰使得原本可以分辨的谱线变得难以分辨或难以确定谱线的强度。虽然在进样方式,射频电源,等离子体截取装置,光学系统,探测器等方面的改进可以校正或削弱大部分的非光谱干扰,但是光谱干扰仍然存在,谱线重叠,背景干扰,谱线漂移等问题仍比较突出,因此采用谱线分析算法校正干扰是必不可少的手段。通过对传统的和目前常用的分析算法考察发现,Kalman滤波方法用途广泛,几乎能解决所有谱线问题;大部分算法计算量仍偏大,不利于快速校正;谱线拟合方法在校正精确度方面仍有改进的余地;因此有必要在Kalman滤波算法、快速谱线校正算法、谱线拟合算法的改进等方面进一步展开研究。本文的主要内容:首先,论文分析了ICP-AES所存在的非光谱干扰和光谱干扰,将问题的关键点锁定在校正光谱干扰方面;归纳传统的和目前常用的谱线分析算法,并对比分析其各自的性能和特点。其次,使用Kalman滤波算法进行光谱分析功能的验证。采用Kalman滤波方法分别校正了谱图中的高斯白噪声干扰,背景干扰,谱线重叠,谱线漂移等问题。再次,使用一种快速谱线分析的算法进行光谱分析功能的验证。在忽略高斯白噪声干扰以及谱线漂移状况已得到校正的情况下快速校正背景干扰,谱线重叠等干扰因素,编程计算证明此方法计算速度快,并且可以保证计算结果的准确性,使谱线分析更加高效。最后,使用基于谱数据增强的高斯拟合算法进行谱线分析功能的验证。谱数据增强算法用于丰富发射光谱的原始谱数据,从而提升算法对谱线的辨识及分离能力;在数据增强的基础上使用高斯拟合算法进行双峰以及多峰的分离拟合,拟合误差均在容许范围之内,计算结果证明此算法有效可行。本文采用了三种改进的谱线分析算法来校正ICP-AES中的光谱干扰问题.Kalman滤波法可以校正目前发现的所有干扰形式,快速谱线分析法可以更短的时间校正背景干扰和谱线重叠,改进后的高斯拟合法在多峰分离方面功能更好,计算速度和结果的准确性均有所提高。
路励真[5]（1967）在《光谱分析中的增量法》文中研究说明 本文对各种增量法作了简要的评述。同时介绍用增量法检验光谱分析系统误差。各种增量法之所以有区别,在于它们对于光谱分析的基本方程所进行的数学处理方法不同。如有的采用图解外推法;有的采用解析计算法;也有的是两者同时使用。以下逐一给以介绍。
雷振东[6]（2019）在《钨丝电热蒸发—大气压辉光放电光谱仪的构建及其应用于镉元素分析研究》文中研究指明近年来,在设备小型化、功能多样化的趋势下,微等离子体（microplasma）技术在分析科学中的应用研究愈渐成为热点。大气压辉光放电（Atmospheric Pressure Glow Discharge-Atomic,APGD）是其中发展较快的一种微等离子体技术,可作为激发源应用于原子发射光谱分析当中。与实验室常规的元素分析手段例如:电感耦合等离子体原子发射光谱（Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometry,ICP-OES）/电感耦合等离子体质谱（Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry,ICP-MS）相比,具有结构简单、功耗小、成本低等优点,在原子光谱分析领域受到越来越多的关注。当APGD作为激发源并使用常规气动雾化方式进样时,微等离子体易受到水汽的影响,造成稳定性和激发能力下降,对某些激发能较高的元素的检测能力弱。基于以上APGD不足之处,本文引入了电热蒸发（Electrothermal vaporization,ETV）进样技术。ETV是将试样加载在由金属或石墨等耐高温材料制成的蒸发器中,通过电流加热的方法去除溶剂和基体后形成干气溶胶,经载气引入等离子体中进行分析的一种进样技术,其能够很好解决APGD中由水分造成的一系列干扰问题。本课题围绕ETV进样技术和APGD-AES仪器开展了如下工作:采用金属钨作为电热蒸发材料,自主设计了一台钨丝电热蒸发-大气压辉光放电原子发射光谱（W-coil ETV-APGD-AES）装置,其主要由ETV进样系统、APGD激发源系统、检测系统和电源控制系统四部分构成。整个装置结构简单、集成度高、稳定性良好。使用微量移液器移取10μL的溶液样品在W-coil上,通过加热升温程序控制ETV完成对试样的干燥、基体去除、蒸发过程,载气将产生的含分析物的干气溶胶引入到APGD中以进一步激发产生特征原子发射光谱,由检测系统收集后进行分析处理。研究了使用不同介质气体（载气）时的放电情况,通过在氦气（He）中掺入3%浓度的氢气（H2）以消除由于空气杂质产生的光谱干扰,使其能够用于实际样品分析且稳定性良好。优化了该装置的主要实验参数,包括放电电流、放电间距、升温程序、载气流速等。在最优条件下,其对Cd的检出限为0.7μg·L-1,绝对检出限为0.007 ng,在5-100μg·L-1线性范围内的相关系数为0.9969,5μg·L-1 Cd的相对标准偏差（RSD）为1.65%（n=11）。使用标准加入法减小样品中由于碱金属和碱土金属造成的基体干扰作用,并应用于环境标准物质和实际水质样品的分析,结果与标准物质参考值和ICP-OES测定值相一致,证明了该方法的可靠性。该装置将APGD微等离子体作为光谱激发源与ETV进样技术相耦合,充分发挥了APGD稳定性好、元素选择性高的分析优势和ETV进样效率高、能够提高激发源激发能力的优点,改善了APGD对重金属元素Cd的检测能力和稳定性。与将液体样品直接引入APGD的分析方法相比,检出限改善了1个数量级左右。与ICP-OES或ICP-MS等成熟实验室仪器相比,在成本价格上具有其独特的优势。
陈文清[7]（1988）在《数学计算法在微量分析中的实际应用》文中认为本文对“光谱分析中增量法的一种数学计算法”实际应用方面提出两点改进的建议:（一）事先对试样元素含量X作大致准确的估计,再用Z1=x,Z2=5X作为确定两个增量的大小。（二）用扣除背景并以背景为内标线进行分析。从而使该法得到更为切实的应用。通过在同样操作条件下的比较,得出该法的准确度虽比“三标准试样法”稍低,但比“掺入杂质法”高得多。
陈新坤[8]（1991）在《原子发射光谱分析》文中认为本文是《分析试验室》期刊定期评述中“原子发射光谱分析”课题的第一篇评述文章。文中对1987～1990年期间我国原子发射光谱分析（AES）领域所取得的进展作了全面评述。内容包括概述、火焰发射光谱法、电弧发射光谱法、火花发射光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法、直流等离子体原子发射光谱法、微波等离子体原子发射光谱法、亚稳态能量转移发射光谱法、激光显微发射光谱法、空心阴极灯和Grimm灯发射光谱法等方面。
马光祖,李国会[9]（1983）在《α系数法在X射线荧光光谱分析中的应用》文中指出 根据联合国开发计划署与中国地质矿产部签订的CPR/80/046项目规定,著名的加拿大X射线荧光光谱分析专家G.Lachance应邀于1982年10月4日至1982年11月4日分别在北京和上海两个地区,以"α系数法在X射线荧光光谱分析中的应用"为内容进行了讲学。对α系数法在X射线荧光光谱分析中应用的历史、理论、现状与他二十多年来所取得的科研成果都进行了详细介绍。两个地区听课的总人数约150人左右,我国科技工作者对这次讲学极为满意。 Lachance专家除讲学外于10月18日至10月25日在地质矿产部岩矿测试技术研究所与我国X射线荧
童式国,叶毓琼,黄仕元[10]（1980）在《光谱分析中增量法的一种数学计算法》文中研究指明 用增量法进行分析,可以使光谱定量分析摆脱对于光谱标样的依赖,较一般光谱定量分析方法的灵敏度高,并能有效地消除第二元素的影响。所以在高纯材料、矿样、试剂以及环境污染物等分析方面,可以利用增量法来完成某些痕量元素的测定工作,从而扩大了光谱定量分析的应用范围。为使方法简化及减少误差,许多光谱分析工作者力图用计算法代替作图法以求出分析结果,并为此提出了增量法的一些计算方案。本文提出的计算法其特点是:（1）由于不必用原样直接激发,因而灵敏度高于过去的许
二、光谱分析中的增量法（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、光谱分析中的增量法（论文提纲范文）
（3）XRF测定铁矿石品位及其中稀土元素含量的方法技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 引言 |
| 1.1 选题依据及研究意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 铁矿石中铁品位化学成分分析方法的研究现状 |
| 1.2.2 铁矿石中稀土元素分析方法研究现状 |
| 1.2.3 XRF法发展现状 |
| 1.3 研究内容及技术路线 |
| 1.3.1 研究内容 |
| 1.3.2 技术路线 |
| 第2章X射线荧光光谱分析的基本原理 |
| 2.1 X射线与物质的相互作用 |
| 2.1.1 光电效应与X射线荧光的产生 |
| 2.1.2 X射线的散射 |
| 2.2 X射线荧光光谱的定性分析 |
| 2.2.1 莫塞莱(Moseley)定律 |
| 2.2.2 布拉格定律 |
| 2.3 X射线荧光光谱的定量分析 |
| 第3章 波长色散X射线荧光光谱定性分析 |
| 3.1 实验操作步骤 |
| 3.2 实验扫描谱图及数据分析 |
| 第4章 样品的制备及影响因素的分析 |
| 4.1 样品的制备 |
| 4.1.1 粉末压片法 |
| 4.1.2 粉末制样的影响因素 |
| 4.2 基体效应校正方法 |
| 4.2.1 经验分类法 |
| 4.2.2 增量法 |
| 第5章 实验仪器与最佳测量条件的选择 |
| 5.1 IED2000T型多元素快速分析仪 |
| 5.1.1 EDXRF 分析仪的结构 |
| 5.1.2 主要性能与技术指标 |
| 5.2 X光管最佳工作条件的选择 |
| 5.2.1 X光管原级谱 |
| 5.2.2 实验方案 |
| 第6章 测量结果与讨论 |
| 6.1 稀土元素La和Ce的测量结果 |
| 6.2 混皮样品中Fe元素的含量测定 |
| 6.3 再皮样品中Fe元素的含量测定 |
| 6.4 增量法的误差分析(La和Ce) |
| 6.5 方法检出限 |
| 6.6 精密度的评价 |
| 结论 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读学位期间取得学术成果 |
（4）发射光谱仪中光谱干扰校正方法的应用和研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 |
| 1.2 课题研究的现状 |
| 1.3 本论文的主要工作 |
| 第二章 ICP 发射光谱仪的原理及干扰分析 |
| 2.1 ICP 发射光谱仪工作原理 |
| 2.2 ICP 发射光谱仪中存在的干扰来源 |
| 2.2.1 非光谱干扰的来源 |
| 2.2.2 光谱干扰的来源 |
| 2.2.3 光谱干扰校正的必要性 |
| 2.3 常用谱线分析算法归纳 |
| 2.3.1 传统的谱线分析方法 |
| 2.3.2 传统方法的改进方法 |
| 2.4 小结 |
| 第三章 Kalman 滤波算法用于谱线校正 |
| 3.1 算法原理 |
| 3.2 算法的稳定性和误差分析 |
| 3.3 试验及结果分析 |
| 3.3.1 消噪声特性的试验 |
| 3.3.2 扣背景能力的试验 |
| 3.3.3 校正谱线重叠能力的试验 |
| 3.3.4 校正谱线漂移能力的试验 |
| 3.4 小结 |
| 第四章 快速谱线分析算法用于谱线校正 |
| 4.1 算法原理 |
| 4.2 试验及结果分析 |
| 4.2.1 两峰间距对计算精度的影响 |
| 4.2.2 干扰峰与待测峰强度比对计算精度的影响 |
| 4.2.3 干扰峰与待测峰半高宽度比对计算精度的影响 |
| 4.2.4 扣背景能力 |
| 4.3 小结 |
| 第五章 基于谱数据增强的高斯拟合算法用于谱线校正 |
| 5.1 算法原理 |
| 5.1.1 谱数据增强算法的原理 |
| 5.1.2 高斯拟合算法的原理 |
| 5.2 试验及结果分析 |
| 5.2.1 谱数据增强算法用于增强数据分辨率的试验 |
| 5.2.2 高斯拟合算法用于单峰拟合的试验 |
| 5.2.3 高斯拟合算法用于二峰分离的试验 |
| 5.2.4 高斯拟合算法用于三峰分离的试验 |
| 5.3 小结 |
| 第六章 三种算法的性能分析 |
| 6.1 Kalman 滤波算法 |
| 6.2 快速谱线分析算法 |
| 6.3 基于谱数据增强的高斯拟合算法 |
| 第七章 总结与展望 |
| 7.1 工作总结 |
| 7.2 展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 附录 |
| 详细摘要 |
（6）钨丝电热蒸发—大气压辉光放电光谱仪的构建及其应用于镉元素分析研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 前言 |
| 1.2 原子发射光谱技术简介 |
| 1.3 大气压辉光放电光谱技术发展概况 |
| 1.3.1 固体电极大气压辉光放电 |
| 1.3.2 液体电极大气压辉光放电 |
| 1.3.3 流动大气压余辉 |
| 1.4 电热蒸发进样技术简介 |
| 1.4.1 碳材料ETV |
| 1.4.2 金属材料ETV |
| 1.5 电热蒸发进样技术在微等离子体技术中的应用 |
| 1.6 课题选题的意义及研究内容 |
| 第二章 钨丝电热蒸发-大气压辉光放电原子发射光谱仪的搭建 |
| 2.1 前言 |
| 2.2 实验部分 |
| 2.2.1 仪器与试剂 |
| 2.2.2 装置搭建 |
| 2.3 结果与讨论 |
| 2.3.1 激发源类型选择 |
| 2.3.2 W-coil ETV-APGD-AES设计优点 |
| 2.3.3 APGD载气种类选择 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 钨丝电热蒸发-大气压辉光放电原子发射光谱仪的参数优化与分析性能研究 |
| 3.1 前言 |
| 3.2 实验部分 |
| 3.2.1 仪器与试剂 |
| 3.2.2 实验步骤 |
| 3.3 结果与讨论 |
| 3.3.1 特征谱线选择 |
| 3.3.2 灰化电流 |
| 3.3.3 蒸发电流 |
| 3.3.4 载气流速 |
| 3.3.5 放电间距 |
| 3.3.6 放电电流 |
| 3.3.7 基体效应 |
| 3.3.8 分析性能 |
| 3.3.9 标准加入法测定样品 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 结论与展望 |
| 4.1 主要结论 |
| 4.2 课题展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
四、光谱分析中的增量法（论文参考文献）
- [1]火焰原子吸收光谱分析多元干扰体系中干扰效应的计算消除方法研究──Ⅰ.多元混合干扰效应的数学表达及算法[J]. 吴育良,俞斌,周天彤. 分析化学, 1996(02)
- [2]线宽增量法及其在生物材料发射光谱分析中的应用[J]. 王滔,谷家骕,陈复生. 华西医科大学学报, 1993(03)
- [3]XRF测定铁矿石品位及其中稀土元素含量的方法技术研究[D]. 石慧. 成都理工大学, 2015(04)
- [4]发射光谱仪中光谱干扰校正方法的应用和研究[D]. 王婷婷. 杭州电子科技大学, 2011(09)
- [5]光谱分析中的增量法[J]. 路励真. 理化检验通讯, 1967(05)
- [6]钨丝电热蒸发—大气压辉光放电光谱仪的构建及其应用于镉元素分析研究[D]. 雷振东. 东华大学, 2019(03)
- [7]数学计算法在微量分析中的实际应用[J]. 陈文清. 上海金属.有色分册, 1988(06)
- [8]原子发射光谱分析[J]. 陈新坤. 分析试验室, 1991(04)
- [9]α系数法在X射线荧光光谱分析中的应用[J]. 马光祖,李国会. 理化检验.化学分册, 1983(04)
- [10]光谱分析中增量法的一种数学计算法[J]. 童式国,叶毓琼,黄仕元. 上海有色金属, 1980(03)