一、绝缘子的油中击穿电压（论文文献综述）
宿志一[1]（2014）在《空气中冲击击穿试验在线路绝缘子检测中的应用》文中进行了进一步梳理文章指出了空气中冲击击穿试验在绝缘子检测中的作用和意义,明确了绝缘子表面闪络时冲击电压幅值与其波前时间（陡度）的相互关系,综述了该试验应用于盘形绝缘子、复合绝缘子和复合盘形绝缘子检测中所采用的不同方法及其引发的不同效果,提出了用幅值法统一各类绝缘子冲击耐受试验的意见,即用冲击击穿试验取代盘形绝缘子的工频击穿试验,用轴向单位长度电压梯度规范复合绝缘子的界面绝缘强度试验,用同强度普通盘形绝缘子耐冲击击穿电压考核复合盘形绝缘子。
闵健,沈亚梅,范建二[2]（2014）在《玻璃绝缘子工频击穿耐受试验的可重复性研究》文中研究表明架空线路绝缘子工频击穿耐受试验的可重复性和再现性,一直困扰着绝缘子的制造者和相关的独立试验室。笔者以架空线路"盘形悬式玻璃绝缘子"（以下简称:绝缘子）为例,在国际大电网会议（CIGRE）第33.07.01工作组2份研究报告的基础上、再次进行试验后指出,影响油中工频击穿耐受试验重复性的主要因素是:试验用油的电阻率、品种和介电强度,并提出一个具有可操作性的试验用油的配制比例,在同一试验室进行了可重复性验证试验,希望此法能为绝缘子制造行业的油中工频击穿试验提供一定的经验,以实现试验室之间的试验再现性。
庄建东[3]（2010）在《TiO2薄膜的结构调控及其在绝缘子防污闪中的应用研究》文中研究说明高压输电线路绝缘子的污秽闪络问题一直是困扰输变电安全的世纪难题。目前防污闪的措施都不能有效防止污秽的积聚，无法从根本上杜绝线路绝缘子的污秽闪络。半导体光催化技术被认为是一种解决环境污染问题的“绿色”技术，而TiO2因其诸多优点一直处于光催化研究，特别是实际应用研究中的核心地位。我们试图利用TiO2薄膜的光自洁性能及其电学特性，并结合对薄膜的结构调控研究，提升高压绝缘子的防污闪性能。本论文研究TiO2膜的构效关系并拓展其应用至输变电领域，对于光催化技术的发展具有理论和实际的双重意义。本论文制备了TiO2防污闪绝缘子，系统研究了光自洁绝缘子的防污闪作用机理；根据TiO2薄膜存在的不足，提出调控缺陷以改进薄膜光催化性能的思路，并对缺陷位的作用机理进行较为系统的研究。具体研究内容包括：（1）采用喷涂法将TiO2溶胶涂覆于陶瓷绝缘子表面，制备光自洁绝型缘子，考察光自洁绝缘子的物化性能和光自清洁能力，并对其电气性能进行比较测试；（2）利用有限元方法模拟仿真绝缘子电场分布，探讨TiO2半导体膜的存在对绝缘子的电气性能的影响机理；（3）在应用研究的基础上，提出在TiO2双层膜中引入缺陷进行改性的思路，表征了TiO2薄膜中缺陷的化学状态，考察了缺陷的存在方式及其位置对薄膜光催化性能的影响，建立了缺陷影响电荷转移的作用模型。研究结果表明，（1）利用旋转喷涂法可在绝缘子表面制备均匀的TiO2薄膜，该薄膜具有良好的光催化性能及活性稳定性。通过各项积污试验表明，相对于普通绝缘子，制得的光自洁绝缘子具有较好的光自清洁能力；（2）只要处理得当，亲水性TiO2半导体膜的存在，并不会降低绝缘子电气性能，相反，在湿污条件下，绝缘子的闪络电压还得到一定提高，提高幅值约为6%12%；（3）有限元电场仿真分析表明，TiO2膜的存在能够改善绝缘子的电场分布，有效抑制局部放电的发生与发展，从而提高光自洁绝缘子的闪络电压；（4）合理结合溶胶镀膜技术与冷等离子体处理技术，可得到带有缺陷的TiO2双层薄膜，且缺陷可存在于膜层的界面上形成“界面缺陷”；（5）缺陷能够捕获电子，提高TiO2薄膜光生载流子的分离效率，从而提高薄膜的光致亲水性能及其对RhB染料的光催化氧化能力，而缺陷的位置对RhB染料分子在TiO2膜上的吸附和降解行为产生极大影响；（6）“界面缺陷”具有与“表面缺陷”类似的促进光催化作用，同时还表现出更高的稳定性，有极大的实际应用价值。论文的创新点：（1）首次将TiO2光催化薄膜应用于高电压输电线路绝缘子的防污闪，不仅为绝缘子防污闪提供了新的思路，同时拓展了光催化技术的应用领域；（2）首次制得含有“界面缺陷”的TiO2膜，提升了薄膜的光催化活性和光致亲水性，还增强了缺陷的稳定性。同时提出了“界面缺陷”对光生载流子以及光催化性能的具体影响机理。本结果为TiO2光催化剂的性能改进提供普适性的理论依据和实现途径。
肖国熙[4]（1994）在《影响绝缘子油中工频击穿电压因素的探讨》文中指出试验研究的结果表明，绝缘子油中工频击穿电压试验结果的再现性很差。本文通过试验证实了影响绝缘子油中工频击穿电压的主要因素是绝缘油的耐压强度和体积电阻率，试验时的升压速度和试品浸入油中的深度等亦对其有一定的影响，提出了进行绝缘子油中工频击穿电压试验时，绝缘油的耐压强度应控制在１０～２０ｋＶ；体积电阻率应控制在１０６～１０９Ω·ｍ，升压速度应控制在４～６ｋＶ／ｓ；试品浸入油中的深度应控制在４５０ｍｍ左右，以保证试验结果的准确性和良好的再现性。
陈凯[5]（2021）在《极寒地区盘形瓷绝缘子劣化的实验研究》文中指出本文针对极寒地区盘形瓷绝缘子的劣化特性进行实验研究,探究极寒环境下盘形瓷绝缘子产生劣化的机理,为极寒地区盘形瓷绝缘子劣化状态评估提供一定的理论支撑。极寒地区的盘形瓷绝缘子不仅每年冬季处于极端低温环境中,而且每年都要经历温度急剧变化所造成得影响。瓷件是由多种晶体的材料烧制而成,且是非均匀的,在极端低温环境下,受温度变化影响,从而导致其不同部件及不同晶体之间的收缩或膨胀,同时在机械应力和电气的作用下,逐渐导致盘形瓷绝缘子劣化,此种劣化无法通过目前现有的检测零值方法检出。盘形瓷绝缘子在受到冻融循环时,将造成铁帽收缩,水泥粘合剂受冻膨胀,产生一定程度的内应力,在以上应力的同时作用下,对瓷件产生所谓的“隐患应力”。水泥粘合剂在此种温度急剧变化的环境下吸湿,造成其结构疏松,经过多次循环,造成应力逐渐增大,最终导致绝缘子劣化。实际中盘形瓷绝缘子已达到或超过了30年的预期运行寿命,因此对极寒地区输电线路盘形瓷绝缘子进行检查,及时更换老化的盘形瓷绝缘子以保持输电线路的可靠性至关重要。根据盘形瓷绝缘子劣化机理,本文对绝缘子所用水泥胶合剂进行了冻融循环实验以验证劣化机理。对处于长期低温以及冻融循环条件下的盘形瓷绝缘子进行了机械破坏实验,对比不同环境下的实验结果,进一步证明了水泥粘合剂在冻融循环条件下加重劣化影响。为进一步模拟盘形瓷绝缘子实际工作环境,探究冻融循环后盘形瓷绝缘子的劣化规律,对冻融循环后的盘形瓷绝缘子进行了机电联合实验,并对实验结果进行分析。为探究极低温对盘形瓷绝缘子电气性能劣化的影响,设计了盘形瓷绝缘子在经历不同低温时长,先后两次油中工频击穿实验,根据击穿电压探究低温对盘形瓷绝缘子的电气性能的影响,并通过对冻融循环后的绝缘子进行陡波冲击实验,探究水泥粘合剂所产生破坏应力是否对盘形瓷绝缘子电气性能产生劣化影响。研究结果对于分析极寒地区盘形瓷绝缘子的劣化具有一定意义,从生产制造的角度讲,只要从其中任一环节阻止由于温度变化造成盘形瓷绝缘子组成元件所产生应力,即可提高盘形瓷绝缘子在极寒地区使用的可靠性。从运行角度讲,对于极寒地区盘形瓷绝缘子应采用定期抽样检测方法检测其残余机电负荷来评估输电线路上整体盘形瓷绝缘子的健康状况,为极寒地区下运行的盘形瓷绝缘子的运行维护和状态评定提供一定程度的理论参考。
武文华,张锐,刘宗喜,袁田,王昱晴,吴光亚[6]（2018）在《不同涂覆效果下复合化盘形悬式绝缘子电气性能差异分析》文中研究指明在盘形悬式绝缘子表面涂覆RTV涂料是一种极为有效的防污闪措施。但由于施工、制造过程没有统一标准,导致实际运行的绝缘子产品表面涂覆效果差异较大,如有的涂料把铁帽覆盖住,有的涂料未覆盖绝缘子上表面等。不同涂覆效果可能会直接影响绝缘子的电气特性。以三种典型不同涂覆试品为对象,在国家电网公司重点实验室分别进行油中击穿耐受电压试验、直流干闪络电压试验,同时,通过ANSYS仿真软件,对试品分别建模分析场强分布情况。结果显示:当RTV涂层上边缘正好与铁帽和瓷件的结合处重合时,其直流干闪络电压最低,油中击穿试验更多体现为伞裙击穿,并且击穿电压相对更低。建议绝缘子进行RTV涂覆时,铁帽底部周围保持一定环形空隙。
邱志斌,阮江军,黄道春,陈洪波,李晓彬,白欢[7]（2016）在《输电线路悬式瓷绝缘子老化形式分析与试验研究》文中认为针对四川电网输电线路悬式瓷绝缘子断串事故频发的问题,抽样选取了一批运行325 a的瓷绝缘子试品,对其老化形式进行了调查分析,并分别通过工频击穿电压试验、冲击击穿试验、机电破坏负荷试验、X射线衍射试验和扫描电镜试验测试了其电气、机械、材料性能。结果表明,悬式瓷绝缘子的老化形式主要包括铁帽炸裂、钢脚腐蚀、瓷体裂纹、釉面蚀损、内部击穿等;运行瓷绝缘子的机电性能分散性较大,产品自身质量对其劣化程度具有显着影响,电气和机械性能劣化程度关联性较小;电瓷材料的显微结构直接影响瓷绝缘子的宏观机电性能,运行状况良好的瓷绝缘子与劣化瓷绝缘子的微观结构存在较大的差异。建议将X射线衍射试验和扫描电镜试验作为瓷绝缘子的采购验收试验之一,并定期对运行瓷绝缘子进行抽样检测,以确保输电线路安全运行。
何元菡[8]（2020）在《酸酐分子结构对环氧树脂—酸酐体系绝缘性能影响的研究》文中指出盆式绝缘子是GIS设备中关键绝缘部件,其偶尔发生沿面闪络故障会威胁电网安全。这种绝缘子由环氧树脂绝缘材料制备获得,绝缘性能也由这种材料决定。电工环氧树脂材料通常由环氧树脂、酸酐固化剂以及固化助剂制备得到,使用分子结构不同酸酐固化剂,会导致制备的环氧材料交联网络区别较大,是造成绝缘等性能差异的主要原因。此外,盆式绝缘子的固化缺陷（如气泡、缩孔）是导致盆式绝缘子发生沿面闪络故障原因之一。研究酸酐分子结构对环氧树脂/酸酐体系绝缘性能的影响,研制出具有低固化缺陷的环氧树脂材料,契合当前我国电气行业对绝缘安全的发展需求。本论文的主要研究内容如下:（1）为了研究酸酐固化剂分子结构对环氧材料绝缘性能的影响,本文利用不同分子结构的酸酐固化剂,制备了几种环氧树脂/酸酐/Al2O3复合体系,测试了这几种体系的绝缘等性能。研究结果表明,固化剂MNA、Me-THPA、Me-HHPA分子结构中存在的-CH3和羧酸碳原子相距较近,具有一定的空间位阻,利用这几种固化剂制备出的环氧材料结构紧凑。在环氧材料多作用区模型中,环氧材料分子链结构紧凑有利于环氧材料内部深陷阱的形成,利于绝缘性能提升。（2）为了探究酸酐固化剂用量对环氧/酸酐体系绝缘性能的影响,本文利用固化剂Me-THPA,制备出几种Me-THPA不同用量的环氧树脂材料,测试了这几种环氧材料绝缘等性能。研究结果表明Me-THPA用量为计算值的90%、100%（即计算值）、110%时,制备出的环氧材料Tg、绝缘性能、机械强度都较好,分析认为是Me-THPA分子结构中的-CH3,在制得的环氧材料分子结构中占比较大,材料结构更加规整,绝缘等性能得到提升。（3）为了制备出具有低固化缺陷的环氧材料,本文进行了Me-THPA对液态环氧树脂的扩链改性研究,得到扩链环氧树脂,并制备了几种扩链环氧/Al2O3复合绝缘材料,测试了这几种扩链环氧材料绝缘等性能。研究结果表明扩链树脂分子量分布增大是由于扩链树脂分子结构中产生了-C=O,且扩链EP的固化放热速率降低显着。扩链树脂/Al2O3复合体系的绝缘性能有效提升,并随着EP/Me-THPA扩链摩尔比的增加,绝缘性能进一步提升。FTIR检测到扩链树脂分子链中-C-O结构含量减少,-C-O是不稳定结构,其含量降低利于绝缘性能的提升。同时SEM图观察到,扩链树脂复合体系表面气泡、缩孔等固化缺陷数量明显减少。
王国利,高超,杨芸,周福升,黄若栋,张乔根,李晓昂,马径坦,许谱名[9]（2018）在《GIS绝缘缺陷局部放电检测的有效性研究》文中研究表明GIS因大容量、高可靠性、环境友好等优点在电力系统获得了广泛应用,局部放电检测作为GIS绝缘状态监测和缺陷诊断的重要手段,但存在误报和漏报现象,需要针对其检测有效性进行研究。文中针对球—板带尖刺电极模型和绝缘子沿面附着金属微粒两种典型绝缘缺陷展开研究,研究不同缺陷类型下局放起始电压和击穿/闪络电压的关系,提出局部放电检测有效性系数α以表征脉冲电流法对绝缘缺陷检测的难易程度。研究结果表明,两类缺陷的局部放电起始电压和击穿/闪络电压均随缺陷尺寸增大而显着降低,球—板带针电极引发的局部放电起始电压与间隙击穿电压差别较大,且局部放电量较高,而绝缘子表面金属微粒引发的局部放电起始电压与闪络电压更为接近,且局部放电量相对间隙缺陷较小,因此,绝缘子沿面金属微粒的局部放电检测有效性系数相对间隙电场集中缺陷更低,通过局部放电检出的难度相对较大,因而危害也更大。此外,随着气压升高,两种典型缺陷局部放电检测有效性系数α均呈现降低趋势,因而可通过适当降低气压开展局部放电试验来提高GIS局部放电检测的有效性。
董冰冰[10]（2014）在《雾对短空气间隙与绝缘子交流放电特性影响研究》文中进行了进一步梳理运行经验表明，雾中外绝缘放电对我国电网的安全和稳定运行构成了巨大威胁。国内外采用蒸汽雾研究了输电线路绝缘子的电气特性，但尚未系统开展自然雾及其电导率对输电线路外绝缘影响的研究。因此，系统研究输电线路绝缘子与空气间隙交流雾闪特性及其影响规律有助于更深入地认识雾闪的本质规律，对湿雾天气中输电线路外绝缘防雾闪和保障电网的安全运行具有重要的参考意义。在国家重大基础研究发展计划973项目的资金支持与国内外研究成果的基础上，论文在重庆大学高电压实验室和雪峰山试验站对输电线路绝缘子与棒－板短空气间隙交流雾闪特性进行了系统的研究分析，得到的主要成果有：根据雪峰山试验站自然环境的测量结果，统计近4年试验站的月平均雾天气分布与雾物理特征，使用最小二乘法拟合液态水含量、雾滴浓度综合影响的能见度计算公式；采用雾发生装置产生模拟雾方法开展了瓷、玻璃绝缘子交流雾闪试验，其结果较蒸汽雾闪络电压高6.8%～7.2%；比较分析了染污方式对复合绝缘子交流雾闪特性的影响，即定量涂层法与喷涂法试验结果的百分偏差为7.1%～9.3%，可忽略染污方法对污秽特征指数的影响。基于人工模拟与自然环境试验，分析了雾物理特征（雾的水含量、雾水电导率与雾水温度）以及环境参数对棒－板短空气间隙交流击穿电压的影响规律。结果表明，雾的水含量在1～3g/m3时，击穿电压增大了5.1%；而雾的水含量在3～4g/m3时无明显变化；雾水电导率从100μS/cm增加至5150μS/cm时，击穿电压减小了2.7%～9.1%。根据试验结果及其分析，提出了浓雾地区雾水电导率对绝缘子交流闪络电压的附加影响规律，即绝缘子表面污秽度达Ⅲ级及以上严重污秽等级时（盐密≥0.15mg/cm2），雾水电导率不影响其闪络电压；而对于Ⅰ级及以下污秽等级（盐密≤0.06mg/cm2），雾水电导率从0.01mS/cm升至3.0mS/cm时将导致绝缘子交流闪络电压降低4.1%～25.6%。即严重污秽时可以不考虑雾水电导率的影响，清洁、轻度污秽时却存在明显影响；清洁、轻污秽绝缘子在高电导率浓雾环境中的交流闪络电压须进行校正，随着雾水电导率的增加（0.01～3.0mS/cm），校正系数K为1.00～0.80，雾水电导率对憎水性绝缘子交流闪络电压的影响小于亲水性绝缘子。根据测量结果，分析了绝缘子表面凝露与湿润特性，基于此建立了雾水电导率影响的附加盐密与预染污盐密的综合等值盐密计算模型，并提出了盐密、雾水电导率附加盐密综合影响的绝缘子交流闪络电压计算模型，模型计算结果与试验结果很吻合，百分偏差小于6.8%；分析了0级污秽时雾水电导率对四种绝缘子交流闪络电压梯度的影响。研究结果可为重污染浓雾地区绝缘子的污秽等级划分提供参考建议。根据雪峰山试验站基地开展的自然雾中绝缘子交流闪络试验结果，提出了盐密和环境温度综合影响的绝缘子交流闪络电压计算公式，与重庆大学青藏铁路高海拔沿线的试验结果吻合；提出与冻雾闪相比，复合绝缘子凝雾交流闪络时贯穿绝缘子两端的闪络电弧的持续时间明显变短，这主要由于冻雾时绝缘子伞群表面粗糙度发生改变，电弧将融化其表面冻结的雾滴而延长闪络时间，使电弧的形状极不规则，而呈现出弯曲或摇摆的剧烈燃烧现象。
二、绝缘子的油中击穿电压（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、绝缘子的油中击穿电压（论文提纲范文）
（2）玻璃绝缘子工频击穿耐受试验的可重复性研究（论文提纲范文）
| 0 引言 |
| 1 对工频击穿耐受试验用绝缘油的品质要求 |
| 2 绝缘子在工频击穿电压试验中可能发生的击穿部位分析 |
| 3 试验用绝缘油的选择和配制 |
| 3.1 原有试验用油的使用情况 |
| 3.2 试验用新油的配制 |
| 3.3 正交设计试验 |
| (1)试验方案的试验因素和“位级”见表2。 |
| (2)试验方案及其击穿试验结果见表3。 |
| 3.4 对正交设计试验的结果分析 |
| 3.5 初步结论 |
| 4 可重复性的抽样检验验证和分析 |
| 4.1 玻璃绝缘子在新油中逐日抽样试验的统计数据汇总 |
| 4.2 逐日抽样检验的验证结果分析 |
| 5 结论 |
（3）TiO2薄膜的结构调控及其在绝缘子防污闪中的应用研究（论文提纲范文）
| 中文摘要 |
| Abstract |
| 目录 |
| 第一章 前言 |
| 1.1 高电压输变线路的污闪现象 |
| 1.1.1 线路绝缘子概述 |
| 1.1.2 污秽闪络及危害 |
| 1.1.2.1 污秽闪络 |
| 1.1.2.2 污闪的危害 |
| 1.1.2.3 污闪过程的机理及要素 |
| 1.1.3 目前绝缘子防污闪的措施及其局限性 |
| 1.1.3.1 改进绝缘子设计 |
| 1.1.3.2 涂憎水防尘涂料 |
| 1.1.3.3 采用复合绝缘子 |
| 1.1.3.4 采用半导体釉绝缘子 |
| 1.1.3.5 定期清扫 |
| 1.1.3.6 存在的问题 |
| 1.2 纳米半导体光催化技术 |
| 1.2.1 光催化概述 |
| 1.2.2 环境光催化 |
| 1.2.2.1 光催化环境污染治理技术 |
| 1.2.2.2 光催化膜功能材料的开发及应用 |
| 1.2.3 半导体光催化作用的基本原理 |
| 1.2.4 TiO_2的结构及基本性能 |
| 1.3 TiO_2光催化作用机制 |
| 1.3.1 气 固、液 固相反应体系中的光催化作用机制 |
| 1.3.2 TiO_2薄膜的光致亲水作用机制 |
| 1.3.2.1 接触角与亲水性 |
| 1.3.2.2 光致亲水机理 |
| 1.3.3 影响 TiO_2薄膜光催化活性和亲水性的主要因素 |
| 1.3.3.1 内在因素 |
| 1.3.3.2 外界条件 |
| 1.4 TiO_2光催化剂的改性 |
| 1.4.1 半导体复合 |
| 1.4.2 离子掺杂 |
| 1.4.3 表面修饰 |
| 1.5 TiO_2光催化薄膜材料的制备 |
| 1.5.1 纳米 TiO_2光催化剂的常用载体 |
| 1.5.2 纳米 TiO_2薄膜的制备方法 |
| 1.6 立题依据 |
| 1.7 研究目的、内容和实验方案 |
| 1.7.1 研究目的 |
| 1.7.2 研究内容及实验方案 |
| 第二章 实验部分 |
| 2.1 主要实验药品及仪器 |
| 2.1.1 主要实验药品 |
| 2.1.2 主要实验仪器 |
| 2.2 实验内容 |
| 2.2.1 催化剂的制备 |
| 2.2.2 实验样品的制备 |
| 2.2.2.1 光自洁陶瓷绝缘子的制备 |
| 2.2.2.2 镀膜釉面陶瓷片样品的制备 |
| 2.2.2.3 载玻片上 TiO_2薄膜的制备 |
| 2.2.3 样品的物性表征 |
| 2.2.2.1 晶相结构 |
| 2.2.2.2 紫外－可见漫发射和吸收光谱 |
| 2.2.2.3 扫描电镜 |
| 2.2.2.4 透射电镜 |
| 2.2.2.5 X 射线光电子能谱 |
| 2.2.2.6 傅立叶红外光谱 |
| 2.2.2.7 电子自旋共振谱 |
| 2.2.4 光催化性能评价 |
| 2.2.4.1 光催化反应装置 |
| 2.2.4.2 光催化性能评价实验 |
| 2.2.5 绝缘子表面污秽程度的评价 |
| 2.2.6 绝缘子电气性能的评价装置 |
| 第三章 TiO_2光自洁绝缘子的自清洁性能及电气性能研究 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 光自洁陶瓷绝缘子的制备和理化特性研究 |
| 3.2.1 光自洁陶瓷绝缘子的制备 |
| 3.2.2 TiO_2薄膜的理化特性 |
| 3.2.2.1 薄膜表征 |
| 3.2.2.2 耐磨性能测试 |
| 3.2.2.3 介电损耗测试 |
| 3.2.2.4 陶瓷釉面 TiO_2薄膜的光催化性能 |
| 3.2.2.5 陶瓷釉面 TiO_2薄膜的光致亲水性 |
| 3.3 光自洁陶瓷绝缘子的自洁特性研究 |
| 3.3.1 人工强化模拟积污试验 |
| 3.3.2 自然积污试验 |
| 3.3.2.1 变电站挂网积污试验 |
| 3.3.2.2 运行线路挂网积污试验 |
| 3.4 光自洁绝缘子的电气性能研究 |
| 3.4.1 绝缘子的电气性能 |
| 3.4.2 绝缘子的闪络特性 |
| 3.4.2.1 闪络距离 |
| 3.4.2.2 闪络路径 |
| 3.4.3 绝缘子电气性能对比研究试验 |
| 3.4.3.1 雷电冲击干闪络电压试验 |
| 3.4.3.2 工频湿闪络电压试验 |
| 3.4.3.3 人工污秽闪络电压试验 |
| 3.4.3.4 耐受电压试验 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 亲水性 TiO_2半导体膜对绝缘子电气性能的影响机理 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 TiO_2薄膜亲水性对绝缘子湿闪络性能的影响 |
| 4.2.1 TiO_2薄膜的表面高亲水性的影响 |
| 4.2.2 电压作用下 TiO_2薄膜焦耳热作用的影响 |
| 4.3 TiO_2薄膜的半导电性对绝缘子电气性能的影响 |
| 4.3.1 TiO_2薄膜对绝缘子串电压分布的影响分析 |
| 4.3.1.1 绝缘子串上电压分布 |
| 4.3.1.2 电压分布的测量 |
| 4.3.1.3 电压分布均匀性对电气性能的影响 |
| 4.3.2 绝缘子电场分布的影响分析 |
| 4.3.3 TiO_2薄膜对绝缘子电晕放电的影响 |
| 4.4 有限元仿真计算法分析绝缘子电场分布 |
| 4.4.1 有限元方法概述 |
| 4.4.2 单片绝缘子的电场分布计算与分析 |
| 4.4.2.1 单片绝缘子的计算模型 |
| 4.4.2.2 单片绝缘子的有限元计算结果 |
| 4.4.2.3 TiO_2膜对表面水珠电场分布的影响 |
| 4.5 绝缘子油中工频击穿电压试验 |
| 4.5.1 TiO_2薄膜与击穿点的外移 |
| 4.5.2 油中绝缘子电场分布仿真 |
| 4.6 光自洁绝缘子的防污闪机制分析 |
| 4.7 本章小结 |
| 第五章 缺陷的引入及其位置对 TiO_2薄膜光催化性能的影响研究 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 低温等离子体表面处理技术 |
| 5.3 带缺陷 TiO_2薄膜样品的制备与表征 |
| 5.3.1 带缺陷 TiO_2薄膜样品的制备 |
| 5.3.2 TiO_2薄膜样品的表征 |
| 5.3.2.1 SEM 观察 |
| 5.3.2.2 HR TEM 观察 |
| 5.3.2.3 XPS 分析 |
| 5.3.2.4 薄膜的 UV Vis 吸收光谱 |
| 5.4 缺陷的存在及位置对 TiO_2薄膜光催化活性的影响 |
| 5.4.1 溶液中罗丹明 B 的定量测试 |
| 5.4.2 罗丹明 B 染料矿化率的测定方法 |
| 5.4.3 TiO_2薄膜样品光催化活性的评价 |
| 5.4.4 RhB 降解过程中的主要反应活性物种 |
| 5.4.5 EPR 法测定 OH |
| 5.4.6 缺陷捕获光生电子 |
| 5.4.7 降解 RhB 的机理模型 |
| 5.4.8 不同气氛下薄膜对 RhB 的降解情况 |
| 5.4.9 缺陷的位置对其稳定性的影响 |
| 5.5 缺陷对 TiO_2薄膜亲水性能的影响及机理研究 |
| 5.5.1 缺陷对 TiO_2双层薄膜光致亲水性的影响 |
| 5.5.2 缺陷对 TiO_2薄膜光致亲水性的影响机理 |
| 5.5.3 沸水处理对缺陷薄膜亲水性能的影响 |
| 5.6 本章小结 |
| 结论 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 个人简历 |
| 在读期间已发表（待发表）的论文 |
（5）极寒地区盘形瓷绝缘子劣化的实验研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 |
| 1.1.1 研究背景 |
| 1.1.2 选题目的及意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 质量管理 |
| 1.2.2 更换复合绝缘子 |
| 1.2.3 在线监测 |
| 1.3 论文主要研究内容及章节安排 |
| 1.4 小结 |
| 第二章 盘形瓷绝缘子的劣化规律和故障机理 |
| 2.1 盘形瓷绝缘子的基本结构和性能要求 |
| 2.1.1 基本结构 |
| 2.1.2 性能要求 |
| 2.2 盘形瓷绝缘子的劣化规律和劣化原因 |
| 2.2.1 劣化规律 |
| 2.2.2 盘形瓷绝缘子劣化原因 |
| 2.3 劣化机理 |
| 2.3.1 污秽闪络的故障机理 |
| 2.3.2 水泥粘合剂膨胀破坏的故障机理 |
| 2.3.3 电-热老化机理 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 极端低温对盘形瓷绝缘子机械性能的研究 |
| 3.1 极端低温环境下水泥粘合剂冻融循环实验研究 |
| 3.1.1 水泥粘合剂冻融循环实验 |
| 3.1.2 实验结果及分析 |
| 3.2 极端低温环境对盘形瓷绝缘子残余机械强度影响 |
| 3.2.1 残余机械强度实验 |
| 3.2.2 机械强度实验结果及分析 |
| 3.3 冻融循环对盘形瓷绝缘子残余机电负荷变化的影响 |
| 3.3.1 残余机电破坏负荷实验 |
| 3.3.2 机电破坏负荷实验结果及分析 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 极端低温对盘形瓷绝缘子电气性能的研究 |
| 4.1 极端低温对盘形瓷绝缘子工频击穿电压的影响 |
| 4.1.1 油中工频实验 |
| 4.1.2 油中工频实验结果及分析 |
| 4.2 冻融循环条件下盘形瓷绝缘子缺陷的检测 |
| 4.2.1 陡波冲击实验 |
| 4.2.2 陡波冲击实验结果及分析 |
| 4.3 劣化机理探究及劣化判定流程 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 总结和展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 作者简介 |
（6）不同涂覆效果下复合化盘形悬式绝缘子电气性能差异分析（论文提纲范文）
| 0 引言 |
| 1 试验设备、试品及试验方法 |
| 1.1 试验设备 |
| 1.2 试验试品 |
| 1.3 试验方法 |
| 2 试验结果及分析 |
| 2.1 油中工频击穿耐压试验结果 |
| 2.2 直流干闪络电压试验情况 |
| 2.3 结果分析 |
| 3 电场仿真结果 |
| 3.1 仿真过程 |
| 3.2 结果分析 |
| 4 结论 |
（8）酸酐分子结构对环氧树脂—酸酐体系绝缘性能影响的研究（论文提纲范文）
| 致谢 |
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景 |
| 1.2 环氧树脂/酸酐复合绝缘材料介绍 |
| 1.2.1 环氧树脂 |
| 1.2.2 环氧树脂固化剂 |
| 1.2.3 其他助剂 |
| 1.2.4 EP和酸酐固化剂的固化反应原理 |
| 1.3 国内外研究现状 |
| 1.4 本文主要研究内容 |
| 第二章 几种典型酸酐/环氧树脂复合体系的绝缘性能研究 |
| 2.1 试验部分 |
| 2.1.1 试验原料 |
| 2.1.2 试样制备 |
| 2.1.3 性能测试 |
| 2.2 结果与讨论 |
| 2.2.1 不同酸酐/EP/Al_2O_3复合体系热学特性 |
| 2.2.2 不同酸酐/EP/Al_2O_3复合体系绝缘特性 |
| 2.3 分子结构对不同酸酐/EP复合体系电气性能影响分析 |
| 2.3.1 环氧树脂绝缘材料基体的多作用区模型的构建 |
| 2.3.2 分子结构对环氧基体界面区的影响 |
| 2.4 小结 |
| 第三章 Me-THPA用量对环氧材料绝缘性能影响的研究 |
| 3.1 试验部分 |
| 3.1.1 试验原料 |
| 3.1.2 Me-THPA不同用量EP材料的制备 |
| 3.1.3 性能测试 |
| 3.2 结果与讨论 |
| 3.2.1 Me-THPA不同用量EP材料热学特性 |
| 3.2.2 Me-THPA不同用量EP材料绝缘性能 |
| 3.2.3 Me-THPA不同用量EP材料机械强度 |
| 3.3 小结 |
| 第四章 Me-THPA扩链改性环氧树脂对其固化物绝缘特性影响的研究 |
| 4.1 试验部分 |
| 4.1.1 试验原料 |
| 4.1.2 扩链环氧树脂的制备 |
| 4.1.3 扩链树脂/Al_2O_3复合浇注材料制备 |
| 4.1.4 扩链树脂/Al_2O_3复合材料性能测试 |
| 4.2 结果与讨论 |
| 4.2.1 扩链树脂分子量分布特性 |
| 4.2.2 扩链树脂红外光谱图 |
| 4.2.3 扩链树脂固化放热特性 |
| 4.2.4 扩链树脂/Al_2O_3复合材料玻璃化转变温度 |
| 4.2.5 扩链树脂/Al_2O_3复合材料固化应力 |
| 4.2.6 扩链树脂/Al_2O_3复合材料绝缘特性 |
| 4.2.7 扩链树脂/Al_2O_3复合材料绝缘性能分析 |
| 4.3 小结 |
| 第五章 总结和展望 |
| 5.1 工作总结 |
| 5.2 展望 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 |
（9）GIS绝缘缺陷局部放电检测的有效性研究（论文提纲范文）
| 0 引言 |
| 1 局部放电实验平台与检测系统 |
| 1.1 GIS典型缺陷模拟 |
| 1.2 GIS绝缘缺陷局部放电实验平台 |
| 1.3 局部放电实验方法 |
| 2 击穿/闪络电压和局放起始电压 |
| 2.1 球—板带针电极 |
| 2.2 绝缘子表面附着金属微粒缺陷放电特性研究 |
| 3 GIS典型缺陷局部放电危险性研究 |
| 3.1 局部放电危险性系数 |
| 3.2 球—板带尖刺电极局部放电危险性分析 |
| 3.3 绝缘子表面附着微粒局部放电危险性分析 |
| 4 GIS典型缺陷局部放电量研究 |
| 5 局部放电检测的有效性研究 |
| 5.1 局部放电检测有效性系数 |
| 5.2 球—板带尖刺电极 |
| 5.3 微粒附着绝缘子 |
| 6 结论 |
（10）雾对短空气间隙与绝缘子交流放电特性影响研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 目录 |
| 1 绪论 |
| 1.1 论文研究的背景及意义 |
| 1.2 论文研究的国内外现状 |
| 1.2.1 空气间隙放电特性 |
| 1.2.2 绝缘子闪络特性 |
| 1.2.3 研究现状总结 |
| 1.3 论文研究的内容 |
| 2 试品、试验装置及试验方法 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 试品 |
| 2.3 试验装置 |
| 2.3.1 实验室试验装置 |
| 2.3.2 现场试验装置 |
| 2.4 试验程序和研究方法 |
| 2.4.1 实验室试验方法 |
| 2.4.2 现场试验方法 |
| 2.5 染污方式对复合绝缘子交流雾闪特性的影响 |
| 2.6 本章小结 |
| 3 雾的物理特征及凝雾湿润与雾模拟方法 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 自然雾的物理及其特征参数 |
| 3.3 绝缘子表面凝雾湿润 |
| 3.3.1 雾滴分布规律 |
| 3.3.2 绝缘子表面凝雾率 |
| 3.3.3 绝缘子表面凝雾与蒸发 |
| 3.4 雾模拟方法与绝缘子湿润 |
| 3.4.1 雾模拟方法 |
| 3.4.2 绝缘子表面饱和湿润 |
| 3.4.3 模拟雾湿润的绝缘子闪络特性 |
| 3.5 本章小结 |
| 4 雾对棒－板短空气间隙交流击穿特性影响 |
| 4.1 雾对短空气间隙交流击穿特性影响因素分析 |
| 4.1.1 雾中棒－板短空气间隙交流击穿特性 |
| 4.1.2 短空气间隙雾中放电微观过程 |
| 4.2 棒－板短空气间隙雾滴影响静电场仿真 |
| 4.2.1 静电场仿真模型 |
| 4.2.2 计算结果分析 |
| 4.3 本章小结 |
| 5 雾中绝缘子交流闪络特征 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 模拟雾中绝缘子交流闪络特性及其校正 |
| 5.2.1 盐密影响规律 |
| 5.2.2 雾水电导率影响特性 |
| 5.2.3 雾水电导率附加影响规律 |
| 5.2.4 试验验证 |
| 5.2.5 雾水电导率校正系数 |
| 5.2.6 悬式绝缘子交流雾闪电压梯度比较 |
| 5.2.7 高电导率浓雾地区绝缘子污秽等级划分建议 |
| 5.3 绝缘子表面凝露分布规律 |
| 5.3.1 凝露露珠增长计算模型 |
| 5.3.2 绝缘子表面雾滴碰撞规律 |
| 5.4 自然雾中绝缘子交流闪络特性及其闪络过程 |
| 5.4.1 自然雾中绝缘子交流闪络电压校正 |
| 5.4.2 自然雾中绝缘子交流闪络过程及其影响因素 |
| 5.5 本章小结 |
| 6 结论与展望 |
| 6.1 本文结论 |
| 6.2 后续研究工作的展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 附录 |
| A. 作者在攻读博士学位期间发表的学术论文 |
| B. 作者在攻读博士学位期间参与的科研项目 |
| C. 作者在攻读博士学位期间获得的奖励成果 |
四、绝缘子的油中击穿电压（论文参考文献）
- [1]空气中冲击击穿试验在线路绝缘子检测中的应用[J]. 宿志一. 电网技术, 2014(07)
- [2]玻璃绝缘子工频击穿耐受试验的可重复性研究[J]. 闵健,沈亚梅,范建二. 电瓷避雷器, 2014(02)
- [3]TiO2薄膜的结构调控及其在绝缘子防污闪中的应用研究[D]. 庄建东. 福州大学, 2010(05)
- [4]影响绝缘子油中工频击穿电压因素的探讨[J]. 肖国熙. 电瓷避雷器, 1994(06)
- [5]极寒地区盘形瓷绝缘子劣化的实验研究[D]. 陈凯. 内蒙古工业大学, 2021(01)
- [6]不同涂覆效果下复合化盘形悬式绝缘子电气性能差异分析[J]. 武文华,张锐,刘宗喜,袁田,王昱晴,吴光亚. 电瓷避雷器, 2018(03)
- [7]输电线路悬式瓷绝缘子老化形式分析与试验研究[J]. 邱志斌,阮江军,黄道春,陈洪波,李晓彬,白欢. 高电压技术, 2016(04)
- [8]酸酐分子结构对环氧树脂—酸酐体系绝缘性能影响的研究[D]. 何元菡. 合肥工业大学, 2020(02)
- [9]GIS绝缘缺陷局部放电检测的有效性研究[J]. 王国利,高超,杨芸,周福升,黄若栋,张乔根,李晓昂,马径坦,许谱名. 高压电器, 2018(11)
- [10]雾对短空气间隙与绝缘子交流放电特性影响研究[D]. 董冰冰. 重庆大学, 2014(12)