一、X波段扫频反射计（论文文献综述）
田步宁[1]（2002）在《微波网络分析技术新进展及其应用研究》文中认为为加速国防科学技术发展、满足新型武器装备研制要求，研究适用于信息化战争环境下的微波网络分析技术成为紧迫而且具有重要意义的课题。本文根据两项国防科技预研重点课题要求对相关问题展开研究，所作的主要工作可概括为： 1)本文首次系统的研究了广义三端口反射计的取样方程，给出了标量检测反射计取样方程的统一形式，提出了关于广义三端口反射计的几个定理并进一步分析了等效三端口反射计，得到了有用的结论。2)本文首次提出适用于标量检测反射计电子校准技术的校准方法—任意六点校准法，该方法具有通用性且具有较高精确度，特别适用于扫频测量。3)本文提出了一种新的多状态反射计电路与适用于该电路的测量方法，并且设计了实际的测量系统。该系统具有很高的测量准确度与稳定性。根据该系统的特点本文提出了单状态四端口反射计技术，并且把多状态技术的思想用于微波功率量值传递问题，提出了测量信号源反射系数与功率计校准因子的新方法。4)本文首次提出双多状态矢量网络分析技术。系统研究了其基本原理、校准理论、实际电路、测量方法并提出了一种新校准方法，该方法克服了已有的TLD （Thru-Line-Delay）校准法的缺点。5)本文首次把多状态技术的思想应用于传统的标量网络分析仪，提出了标量网络分析仪的矢量测量技术，使得其可以完成矢量测量，成为一种新型的宽频带矢量网络分析仪。6)针对已有传输/反射法的局限性，本文首次提出确定电介质材料复介电常数的三方程法。研究了基于散射参数测量的三个方程的测量不确定度，得到了其适用范围。同时提出了应用这三个方程解决已有传输/反射法存在的多种问题的方法。另外，应用三方程法成功地扩展了矩形波导取样器测量材料复介电常数的频率范围。7)本文首次提出利用散射参数无损测量平板材料电磁参数的思想并分别得到了两种方法。其一为数值方法。与已有的数值计算方法相比，该方法的求解方程不存在奇点，测量精确度相当但具有更快的速度。其二为等效电路法，该方法对取样器法兰形状与大小无特殊要求，既适用于无损测量，又适用于取样测量，具有目前已有的取样测量传输/反射法的计算量与精确度。8)本文提出用多状态技术来实现材料电磁参数的测量，提出了一种基于二端口网络变换系数的电磁参数测量方法，并且组建了四态四端口材料电磁参数自动测量系统。另外，提出了分析整个系统测量不确定度的新方法——误差传递流程图分析法。该方法适用于其它复杂系统的测量不确定度分析。 以上所有内容均在本文的相应章节中加以叙述。
滕鹏[2]（2021）在《V波段高距离分辨率探测组件》文中进行了进一步梳理宽带毫米波收发探测组件广泛应用于高分辨率成像、等离子剖面探测、高精度末敏引信等应用系统中。本文针对V频段频率窗口,研制了一款工作频率覆盖50GHz-75GHz的零中频调频连续波体制（FMCW）收发组件,对构成组件的各个功能模块进行了详细设计及加工测试,并通过合理配置发射波形,对集成后组件的整体探测性能进行了实验验证。主要内容包括:1、采用集成数字锁相环研制了一款覆盖整个X波段的扫频源,用于产生高线性度、短时常、大带宽的锯齿波。其实测带内相位噪声典型值为-90dBc/Hz@1KHz、-100dBc/Hz@10KHz、-106dBc/Hz@100KHz、杂散抑制大于60dB,在8.3GHz-10.5GHz频率范围内,输出功率典型值为7dBm,在10.5GHz-12.5GHz范围内,功率逐渐下降至3dBm。2、基于商用MMIC芯片及分立肖特基二极管,采用混合集成的形式,分别设计并制作了V波段有源6倍频器和V波段基波平衡混频器。有源6倍频器在大于6dBm的基波激励功率下,50GHz-75GHz频率范围内输出功率为10dBm-17dBm。基波混频器中频带宽为15GHz,在50GHz-75GHz频率范围内实测典型值变频损耗为9dB,下变频输入P1dB压缩点为5dBm。3、基于小孔耦合原理设计制作了V波段3dB波导定向耦合器。在缺少V波段矢网的情况下,搭建测试系统对耦合器的直通损耗及耦合度性能进行了测试。实测结果表明,在50GHz-75GHz频率范围内,耦合度为3±1dB,插入损耗小于1dB。4、在完成各功能模块研制的基础上,对整个组件进行了集成,在实验室环境中对固定角锥反射器目标进行了测试,并对测量数据进行了分析。本文所研制的V波段探测组件结构简单,工作带宽可覆盖整个V波段,可用于亚厘米级分辨率的应用场景中。需要说明的是,由于频率源外壳体结构件的加工缺陷,导致X波段内的扫频信号功率平坦度不好。为保证V波段发射功率的平坦度,实际测试所使用的X波段扫频信号范围为8.3GHz-10.5GHz,对应V波段的范围为49.8GHz-63GHz。
张云鹏[3]（2019）在《隐身涂层微波反射率现场检测技术研究》文中指出隐身涂层作为隐身技术的一种重要手段,因其施工方便、不受涂覆表面形状限制等特点而广泛应用于军事领域。隐身涂层对雷达波的吸收性能主要通过微波反射率进行表征。在实验室环境,已有包括弓形法、RCS（Radar Cross Section）法、密闭传输线法等多种标准测试方法对涂层样品进行检测。然而,当隐身涂层在实际应用时,由于:（1）吸波涂层原料在生产或喷涂过程中可能因自身质变或喷涂设备涂覆不佳,导致涂覆后的实际性能偏离设计指标;（2）已涂覆涂层在使用过程中可能因外力或自身寿命等多种因素造成涂层化学性能变化,导致吸波性能恶化;（3）损伤涂层经更新修复后可能因修复效果不佳造成吸波性能未达到要求,因此均需对涂层进行现场检测来评估其性能是否满足要求。本文涉及的现场检测包含两方面内容:（1）针对涂层原料及涂覆设备,通过现场制样对其喷涂后的涂层反射率进行测试;（2）针对已喷涂到装备表面的涂层,对其反射率进行跟踪检测。上述两种情况均要求测试设备适应现场复杂环境,能够以便携式进行快速检测。本文基于自由空间反射测试理论对隐身涂层微波反射率现场检测技术进行研究,从理论分析、测试建模和系统研制三方面入手,着重解决反射率现场检测中的表征方法、天线设计、数据处理和误差分析难题。通过分析材料与天线近场辐射波之间的互作用机理,提出了近场波束作用下的反射率检测新方法。基于平面波谱和平面波散射矩阵理论,建立了高斯波束反射系数与平面波反射系数之间的转换模型,获得了近场波束下的材料反射率表征关系。通过建立单反射测试误差模型,对系统方向性变化规律进行了研究,为不同收发配置下的天线性能提供了设计准则。基于误差模型,提出了分离复杂矢量信号的误差分析新方法,解决了单一误差项定量评估难题。针对测试信号的数据处理,推导了时域选通算法,实现了对干扰信号的有效抑制。针对标量测试下反射系数的相位获取,提出了一种引入标样网络的矢量推导新方法,实现了通过幅度值对复反射系数的求解。针对现场测试对天线性能的要求,研制了三种测试天线,组建了反射率台式和手持式现场检测系统并编写了测试软件。本论文的主要研究工作和创新点如下:1.提出基于天线近场波束的反射率现场检测新方法。根据天线近场辐射原理,分析了两种典型近场波束的传播特性及性能参数。基于近场测试中的缩距聚焦技术,提出以近场波束作为测试信号作用于待测材料的研究思路。2.天线近场波束与材料互作用机理研究。以平面波束和高斯波束作为研究对象,分析了两种入射波束经平面材料反射后的场分布特性,推导了材料在平面波束和高斯波束下的反射系数,建立了两种波束反射系数之间的转换模型,为反射率近场测试建模提供了理论指导,同时为近场天线辐射性能提供了设计指导。3.反射率现场检测的建模及误差项分析。根据电磁波传输网络理论,建立了基于单天线的收发同置和基于双天线的收发分置单反射测试模型,分析了模型的误差源及校准方法,提出了采用附加信号处理算法的简化校准技术。针对现场检测进行误差项分析,提出了分离复杂干扰信号为各单一误差项的方法,对多路径反射、收发互耦及边缘效应引入的误差进行了定量评估。4.反射率现场检测的数据处理。针对干扰信号的抑制,基于时域选通技术推导了原始测量数据的时通优选修正过程,分析了时域门设置及其对测试结果的影响,实现了反射信号的有效提取和干扰信号的有效抑制。针对标量测试下反射系数相位获取问题,提出了一种引入标样网络的矢量推导新方法。5.反射率现场检测系统的研制及实验验证。根据测试物理模型及工程应用对天线的设计要求,研制了点聚焦透镜天线、紧耦合Vivaldi天线阵和双对踵Vivaldi天线。基于上述天线组建了台式和手持式反射率现场测试系统,并对系统性能进行了测试。通过测试数据比对分析,完成了系统整体性能及测试误差评估。通过以上系统性研究,研制出的微波反射率现场检测系统达到如下技术指标:测试频率:218 GHz;反射率测试范围（典型值）台式:0-12 dB（24 GHz）;0-20 dB（418 GHz）;手持式:0-6 dB（24 GHz）;0-20 dB（418 GHz）;测试误差,台式:≤13.1%;手持式:≤15.6%;尺寸,台式:60×60×50 cm3;手持式:24×15×39 cm3;重量,台式:8 kg;手持式:3.5 kg。
Paul C. Ely[4]（1972）在《扫频技术》文中研究说明扫频技术的迅速发展,对微波技术水平的提高起着极为重要的作用。本文讨论了扫频测量系统中的一些关键元件,详细论述了以扫频为基础的反射系数测量的进展。利用讯号流图分析了反射计和开槽线的精确度。比较结果表明,在典型实验室中,扫频测量具有的精确度与缓慢而繁琐的固定频率测量的精确度相当。研制一种能够以复数散射矩障全面表征高频网络特性的仪器,这是一项重大进展。文中对好几种扫频测量微波参量的幅值和相位的新方法作了说明,引入了经改进的S参量设计程序。
冯喜[5]（2020）在《EAST装置上芯部多道多普勒反射计研制及增强约束运行模式（Ⅰ模）研究》文中进行了进一步梳理多普勒反射计是一种具有高时间、波数分辨率的无损局域湍流诊断,能提供局域等离子体的极向旋转、湍流密度涨落谱与垂直速度涨落谱。本论文主要工作是在东方超环（EAST）-G窗口设计、搭建、调试、测试了一套包含前端光路、微波电子学系统、控制与采集系统的完整W波段（75-110GHz）5道多普勒反射计系统,并进行系统维护、实验数据处理以及物理分析。此外,利用己有的8道V波段（50-75GHz）微波多普勒系统在EAST装置上首次开展了增强约束运行模式（Ⅰ模,一种同时具有L模粒子约束特性和H模能量约束特性的等离子体运行模式）的物理研究。引言部分除介绍可控聚变研究现状外,还对本论文的研究对象多普勒反射计进行了详细的测量原理介绍,并对系统测量信号进行了详细的成分分析;另一方面还总结了多普勒反射计数据分析中可能用到的各种数据处理方法。论文中我们结合东方超环（EAST）实验需求、窗口实际情况在G窗口搭建了一套W波段（75-110GHz）多道多普勒反射计（DR,WDR）系统。文中详细介绍W波段多普勒反射计系统（WDR）与相干电子回旋辐射（CECE）诊断共用的前端光路系统的设计,分为真空室外与真空室内两部分分别设计,并对真空室内两种长距离微波传输方案做了详细的方案参数设计。结合光路准直的实际需求前端光学系统采用了波导伸入真空室内的微波传输方案,并通过旋转靠近等离子体的平面反射镜来调节微波发射角度。同时文中对光路设计中的两个难点部件聚焦反射镜与电介质板微波分束片（使DR与CECE集成到同一条光路中）进行了详细介绍。电子学系统设计中依据在实验室调试中得到的经验,创新地采用双边带调制器串联六倍频器的方案产生W波段连续多峰,并选定多道频率间隔400 MHz。全新的多道产生方案使得系统调试成为本项工作最大的困难点,文中详细介绍了实现该多道系统的调试测试过程,并根据最优功率分配和稳定性选用了上边带混频方案,实现了多道系统多峰频率6*f0+k*0.4 GHz,并测得系统有效工作频率范围为75-97.8 GHz。同时还通过射线追踪对多种参数条件下WDR系统径向覆盖能力进行计算。联合诊断控制与采集部分采用了美国国家仪器公司（NI）的控制、采集、存储套件。最后论文中提出了新的收发分离方案以改善噪声与频率扩展方案以增大系统频率覆盖。随后在论文中对该多道系统在EAST上观察到的密度涨落与温度涨落相干结构、撕裂模、H模本征测地声模等实验现象进行详细分析。文中详细介绍了WDR与CECE联合多场涨落测量中在密度扰动和电子温度扰动中发现的的以弱相干结构和在径向电场涨落和电子温度涨落相关中发现的一强相干结构。在撕裂模引起的芯部大磁岛观测中在反射计湍流谱上观察到清晰的双湍流峰以及磁岛附近湍流和剪切流不规则空间分布引起的多阶撕裂模谐频。文中还对磁岛内观察到的强湍流、边界强剪切流以及磁岛前后边界强不对称性进行了详细的介绍,研究发现磁岛内湍流可能与岛内杂质峰有关。在H模本征测地声模(GAM研究中,论文中详细描述了 H模GAM特性、存在区域、模结构、传播特性及双谱分析等方面的研究成果。同时文中还介绍了对H模GAM的统计研究成果。最后论文中还介绍了在东方超环（EAST）上完成的国内首次增强型约束模式（Ⅰ模）实验研究工作。文中首先介绍了 Ⅰ模在国外的观测和研究历史,并系统地总结了国外装置上Ⅰ模宏观特征、微观扰动和统计研究方面的研究成果。EAST上的首次Ⅰ模研究从Ⅰ模识别开始,我们创新性地利用从微观边界扰动出发并结合宏观参数特征确定的研究方法,首次确认了 EAST装置上Ⅰ模运行区的存在,并以此经验总结出EAST装置上一套Ⅰ模判断标准。Ⅰ模确认后文中对在Ⅰ模边界等离子体中观测到的两支Ⅰ模特征模低频振荡（LFO）和弱相干模（WCM）及测地声模（GAM）进行了详细的分析。特别地,分析低频振荡（LFO）时结合多诊断数据首次确定了其物理本质是局域边界温度振荡环（ETRO）,并会通过周期性的局域电子温度梯度变化周期性地激发出强电子方向湍流（可能是TEM）,并以此形成了 Ⅰ模边界观测到的Er井。研究发现该电子方向的强湍流会与弱相干模产生强烈的调制耦合,并共同作用产生了低频振荡频率的周期性径向向外粒子输运,以增强Ⅰ模边界粒子输运,使粒子约束维持在较低水平,并维持Ⅰ模的长期稳态运行。利用电子方向周期性的湍流激发引起的垂直旋转速度在电子和离子方向的大小不对称性首次在漂移波-带状流体系中解释了低频振荡的二次谐频形成机制。双谱分析表明低频振荡、弱相干模与背景湍流三者间存在着强相互作用,可能是能量由背景湍流转移至低频振荡和弱相干模导致的边界剪切最强区湍流减弱,增强了对Ⅰ模形成机制的系统性认识。论文中还对整理发现的Ⅰ模进行了加热方式、运行参数空间、Er井深度、功率阈值、能量约束特性等的初步统计研究,获得了初步的Ⅰ模运行的放电经验以指导主动可控Ⅰ模实验运行。
张重阳[6]（2014）在《微波反射计在磁约束等离子体中的应用》文中研究指明本论文围绕着微波反射计的研究工作展开,微波反射计是一项等离子体诊断,它能够提供磁约束装置内等离子体密度剖面分布以及等离子体密度涨落,得益于其较高的时间空间分辨能力以及较少的窗口资源占用,它已经广泛的应用于各种类型的磁约束装置上。本文的主要工作包括：微波反射计方案设计,微波反射计的平台实验研究,微波反射计数据处理方法研究,最后介绍了微波反射计在托卡马克上的实验测量工作。通过这些研究工作,本论文给出了微波反射计系统的一些关键参数,包括测量目标,时间空间分辨,测量误差,测量范围等。本论文首先分析比较了三种微波反射计设计方案,包括幅度调制反射计,频率调制造续波反射计,脉冲雷达反射计。在EAST上我们采用频率调制作为微波反射计的设计方案,由于采用了HTO固态源作为该反射计的微波源,该微波反射计的全波段扫描周期大大缩短（10微秒）,在一个扫描周期内等离子体被’冻结’。为增加反射计的密度覆盖范围,该微波反射计采用了双极化测量,它的发射天线极化方向与托卡马克中磁场方向成四十五度夹角,可以同时发射寻常波极化与非寻常波极化的微波信号,在接收端采用一对接收天线分别接收两种极化信号。该反射计的微波发射频率覆盖33GHz～72GHz之间,与之对应的电子密度测量范围包括0～6.0×1019m.,这使得该反射计能够覆盖EAST托卡马克整个低场侧等离子体。本论文通过平台实验对影响微波反射计测量的几个因素做了实验分析,其中包括：微波源的频率输出特性,微波源的扫频速率,反射板与天线之间的距离与夹角,过模波导的色散效应。我们在平台实验中改变这些参数,进而观察这些参数对于微波反射信号幅度与频率的影响,最终通过平台实验来确定微波反射计的时间分辨与空间分辨,以及波导的色散效应,发射天线的有效角度。接下来我们根据平台实验得到的结果对微波反射计的硬件进行调整,对微波源做校准使得其输出频率随时间线性扫描,通过平台实验的定标来扣除波导色散对中频频率的影响,确定发射天线与等离子体截止层夹角的有效范围,调整延迟线长度使得中频频率处在最优的探测范围内。本论文根据频率调制反射计的特点在数据处理中采用了两种分析方法-时频分析方法与数字复解调方法。时频分析方法是对中频数据在不同的时间点上做频谱分析,得到随时间变化的中频频谱,然后根据中频频率计算得到时间延迟,再通过时间延迟得到相位随频率变化,最终根据寻常波以及非寻常波在等离子体中的色散关系分别得到两种模式对应的密度剖面。在频谱分析过程中由于寄生散射的干扰较多,因此可以采用一些能够剔除寄生散射的寻峰算法,包括：最佳路径法,突发模式法,自适应频谱法等。而数字复解调也就是CDM方法通过中频频谱移动以及数字滤波处理可以直接获得中频信号的相位延迟信息。这两种的适用范围不同,CDM适用于中频频谱分布在一个较窄频率范围内的情况,而时频分析方法可以在更广的范围内使用。在本论文的最后介绍了微波反射计的三次实验情况,这三次实验分别在EAST与J-TEXT上进行。在EAST首次实验中采用的是V波段非寻常波模式,也就是单一通道测量,得到了部分密度剖面的分布;在J-TEXT上采用了双极化测量,密度测量范围覆盖整个低场侧等离子体,得到了完整的密度剖面分布与左旋波模式下微波在内壁处的反射信号；在EAST第二次实验中微波反射计采用了双极化测量,因此能够覆盖整个EAST低场侧等离子体,同时为了降低反射计对窗口资源的占用我们将天线安装在真空室内部,在微波传输过程中采用了低损耗的过模波导,在真空室内部使用了角锥天线作为接收与发射天线。
孙稼,曹江,张其劭[7]（1991）在《扫频X波段波导双六端口ANA研究》文中进行了进一步梳理本文提出一种新的扫频双六端口网络分析仪校准方法,具有校准时间短、对硬件要求低等优点。该实用系统可在X波段测试任一双口网络的散射参数;通过比对,给出了本系统的测试误差。
徐得名,钟顺时,陈惠民,方勇,杨雪霞,郑国莘,武卓,金彦亮[8]（2011）在《上海大学微波与无线通信领域的科学研究》文中指出上海大学微波与无线电通信学科拥有"电磁场与微波技术"和"通信与信息系统"2个博士授权点.自1972年原上海科技大学开始创办无线通信专业至今,在国家高技术研究发展计划（863计划）项目、国家自然科学基金项目等国家级项目和上海市科委以及企业委托项目的支持下,开展了双极化多波段微带天线阵、小型化和超宽带（ultrawideband,UWB）天线、微波输能技术、通信信号处理、微波通信、限定空间无线电通信以及各类无线通信系统的研究,其中的许多研究成果在国内处于先进水平,在国际学术界具有一定的知名度.
周在杞[9]（1984）在《微波无损检测技术发展现状和趋向》文中研究说明本文论述近十年来微波无损检验技术发展现状,包括微波检测原理研究进展,各种探头发展概况,以及主要检测方法和仪器。对非正弦波时域反射技术及很有发展前途的微波计算机断层成象技术也作了评述。
张其劭,孙稼,曹江[10]（1989）在《X波段微波吸收材料电磁参数扫频测量方法及系统》文中研究指明本文提出利用扫频双六端口自动网络分析仪来测量材料的复介电常数和复磁导率的测试方法和系统。利用扫频双六端口自动网络分析仪,组建了X波段微波吸收材料电磁参数自动测试系统。对聚四氟乙烯和几种吸收材料进行了测试,作为比对,对同一样品在矢量网络分析仪上进行了测试,对测试结果进行了误差分析和综和。聚四氟乙烯的测试结果同公认值非常接近,几种吸收材料的测试结果同矢量网络分析仪测试结果也很吻合。
二、X波段扫频反射计（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、X波段扫频反射计（论文提纲范文）
（1）微波网络分析技术新进展及其应用研究（论文提纲范文）
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景和意义 |
| 1.2 微波网络分析技术的发展与国内外研究现状 |
| 1.3 论文研究内容与作者主要工作 |
| 第二章 微波网络分析技术的基本问题 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 广义三端口反射计的取样方程 |
| 2.3 广义三端口反射计的几个定理 |
| 2.4 等效三端口反射计的进一步分析 |
| 2.5 传统网络分析仪的反射取样方程 |
| 2.6 标量检测反射计取样方程的统一形式 |
| 2.7 本章小结 |
| 第三章 标量检测反射计的电子校准技术研究 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 电子校准技术 |
| 3.3 一种校准标量检测反射计的新方法 |
| 3.4 计算机模拟与实验结果 |
| 3.5 几点说明 |
| 3.6 本章小结 |
| 第四章 多状态反射计的测量电路研究 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 多状态反射计的几种电路 |
| 4.3 一种新的多状态反射计电路及其测量方法 |
| 4.4 实用的微波多状态测量系统及其改进 |
| 4.5 单状态四端口反射计技术 |
| 4.6 信号源反射系数与功率计校准因子测量新方法 |
| 4.7 本章小结 |
| 第五章 双多状态微波网络分析技术研究 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 双多状态微波网络分析技术原理 |
| 5.3 双多状态微波网络分析仪的校准 |
| 5.4 双多状态微波网络分析仪的实际电路 |
| 5.5 测量系统的计算机模拟 |
| 5.5 本章小结 |
| 第六章 标量网络分析仪的矢量测量技术研究 |
| 6.1 引言 |
| 6.2 Karel Hoffmann的矢量测量技术 |
| 6.3 三通道标量网络分析仪的矢量测量技术 |
| 6.4 四通道标量网络分析仪的矢量测量技术 |
| 6.5 实验结果 |
| 6.6 本章小结 |
| 第七章 取样测量复介电常数的传输/反射法研究 |
| 7.1 引言 |
| 7.2 利用散射参数确定复介电常数的三方程法 |
| 7.3 三方程法的测量不确定度分析 |
| 7.4 厚度谐振等问题的判断与解决方法 |
| 7.5 三方程法的实验结果 |
| 7.6 矩形波导测量复介电常数的频率范围扩展 |
| 7.7 本章小结 |
| 第八章 基于散射参数的复介电常数无损测量方法研究 |
| 8.1 引言 |
| 8.2 三种边界条件下的导纳方程 |
| 8.3 基于散射参数的无损测量复介电常数的新数值方法 |
| 8.4 基于散射参数的无损测量复介电常数的等效电路法 |
| 8.5 实验结果 |
| 8.6 本章小结 |
| 第九章 基于多状态技术的材料电磁参数测量系统研究 |
| 9.1 引言 |
| 9.2 系统设计与测量方法 |
| 9.3 系统测量不确定度分析 |
| 9.4 实验结果 |
| 9.5 本章小结 |
| 结束语 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 附录 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 |
（2）V波段高距离分辨率探测组件（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究的背景与意义 |
| 1.2 毫米波组件的国内外发展现状 |
| 1.3 论文的主要研究内容 |
| 第二章 V波段收发组件方案论证 |
| 2.1 发射链路设计 |
| 2.2 接收链路设计 |
| 2.3 系统方案设计 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 X波段频率源设计 |
| 3.1 频率综合器综述 |
| 3.2 频率源的主要频率合成方式 |
| 3.2.1 直接式频率合成技术(DS) |
| 3.2.2 直接数字频率合成技术(DDS) |
| 3.2.3 锁相式频率合成技术(PLL) |
| 3.2.4 混合式频率合成技术 |
| 3.3 总体方案设计 |
| 3.3.1 频率合成方案选择 |
| 3.3.2 PLL芯片选型 |
| 3.4 频率源相关电路设计 |
| 3.4.1 电源电路 |
| 3.4.2 参考信号电路 |
| 3.4.3 射频电路 |
| 3.4.4 通信电路 |
| 3.4.5 电路的装配 |
| 3.5 X波段频率源的实验研究 |
| 3.5.1 系统测试方案 |
| 3.5.2 频率源测试结果 |
| 3.6 本章小结 |
| 第四章 倍频器和混频器设计 |
| 4.1 V波段E面探针设计 |
| 4.1.1 鳍线结构与探针结构比较 |
| 4.1.2 低插损E面探针设计 |
| 4.2 倍频器设计 |
| 4.2.1 倍频器的原理及分类 |
| 4.2.2 倍频方案选择 |
| 4.2.3 有源二倍频和有源三倍频 |
| 4.2.4 带通滤波器 |
| 4.2.5 倍频器的实验研究 |
| 4.3 混频器设计 |
| 4.3.1 基波混频理论分析 |
| 4.3.2 混频器整体方案设计 |
| 4.3.3 混频器中相关无源电路设计 |
| 4.3.4 整体电路仿真 |
| 4.3.5 混频器实验研究 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 耦合器的设计 |
| 5.1 波导定向耦合器简介 |
| 5.2 波导定向耦合器理论分析 |
| 5.3 V波段定向耦合器的简化设计 |
| 5.4 V波段波导定向耦合器的仿真优化过程 |
| 5.5 V波段波导定向耦合器的实验研究 |
| 5.6 本章小结 |
| 第六章 V波段组件的集成测试 |
| 6.1 单个目标测量 |
| 6.2 多个目标测量 |
| 6.3 本章小结 |
| 第七章 结论 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 作者简介 |
（3）隐身涂层微波反射率现场检测技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究工作的背景和意义 |
| 1.2 隐身涂层微波反射率测试现状 |
| 1.2.1 实验室标准测试 |
| 1.2.2 现场无损检测 |
| 1.3 微波反射率现场检测涉及的关键问题 |
| 1.4 主要研究内容及创新点 |
| 1.4.1 研究目标 |
| 1.4.2 主要贡献与创新 |
| 1.4.3 研究内容及结构安排 |
| 第二章 天线近场辐射波束与材料互作用分析 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 天线近场辐射特性 |
| 2.2.1 天线辐射场区的划分及特性 |
| 2.2.2 几种类型的近场波束 |
| 2.2.2.1 平面波束场分布 |
| 2.2.2.2 高斯波束场分布 |
| 2.3 近场波束与涂层互作用机理分析 |
| 2.3.1 平面波束反射模型 |
| 2.3.2 高斯波束反射模型 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 微波反射率现场检测的建模分析与数据处理 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 反射率现场检测单反射法测量原理 |
| 3.2.1 单反射测试建模分析 |
| 3.2.2 收发同置与收发分置的分析比较 |
| 3.3 反射率近场测量中的三个误差项分析 |
| 3.3.1 多路径反射 |
| 3.3.2 收发互耦 |
| 3.3.3 样品边缘效应 |
| 3.4 反射率现场检测的数据处理技术研究 |
| 3.4.1 频响信号的时域变换及时域选通 |
| 3.4.1.1 频域-时域变换 |
| 3.4.1.2 截断效应和窗函数 |
| 3.4.1.3 时域选通技术在反射率现场检测中的应用 |
| 3.4.2 基于标量值的矢量推导技术研究 |
| 3.4.2.1 基于标量值的矢量推导技术简介 |
| 3.4.2.2 附加标样网络的矢量求解新技术 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 微波反射率现场检测天线的研制及系统组建 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 点聚焦喇叭透镜天线的研制 |
| 4.2.1 透镜天线的设计原理 |
| 4.2.2 天线仿真及测试结果 |
| 4.3 用于宽带近场测试的Vivaldi天线研制 |
| 4.3.1 Vivaldi天线单元分析与设计 |
| 4.3.2 紧耦合Vivaldi天线阵研制 |
| 4.3.2.1 一维有限天线阵设计 |
| 4.3.2.2 宽带馈电网络设计 |
| 4.3.2.3 仿真及测试结果 |
| 4.3.3 双对踵Vivaldi天线研制 |
| 4.3.3.1 双对踵结构设计 |
| 4.3.3.2 仿真及测试结果 |
| 4.4 测试系统组建 |
| 4.4.1 收发同置台式测试系统 |
| 4.4.2 收发分置台式测试系统 |
| 4.4.2.1 基于紧耦合Vivaldi天线阵的测试系统 |
| 4.4.2.2 基于双对踵Vivaldi天线的测试系统 |
| 4.4.3 收发分置手持式测试系统 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 测试结果与测试误差 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 台式系统测试 |
| 5.2.1 时域门设置实验分析 |
| 5.2.2 背景电磁干扰实验分析 |
| 5.2.3 反射率测试结果 |
| 5.2.4 测试误差 |
| 5.3 手持式系统测试 |
| 5.3.1 隔离罩性能实验分析 |
| 5.3.2 反射率测试结果 |
| 5.3.3 测试误差 |
| 5.4 本章小结 |
| 第六章 全文总结与展望 |
| 6.1 全文总结 |
| 6.2 后续工作展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 |
（5）EAST装置上芯部多道多普勒反射计研制及增强约束运行模式（Ⅰ模）研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 引言 |
| 1.1 核聚变与磁约束 |
| 1.1.1 惯性约束聚变 |
| 1.1.2 磁约束聚变 |
| 1.2 托卡马克基本原理 |
| 1.2.1 托卡马克简介 |
| 1.2.2 托卡马克诊断概述 |
| 1.3 湍流输运 |
| 1.4 多普勒反射计基本原理及数据处理 |
| 1.4.1 多普勒反射计基本原理 |
| 1.4.2 多普勒反射计数据处理 |
| 第2章 芯部多道多普勒反射计系统设计 |
| 2.1 前端光路设计 |
| 2.1.1 设计方案 |
| 2.1.2 聚焦反射镜设计 |
| 2.1.3 分束片 |
| 2.2 电子学系统设计 |
| 2.2.1 现有多道方案 |
| 2.2.2 新多道方案电子学系统设计 |
| 2.3 系统调试与测试 |
| 2.3.1 系统调试 |
| 2.3.2 系统测试与射线追踪 |
| 2.4 改进方案 |
| 2.4.1 收发分离改进 |
| 2.4.2 测量范围扩展方案 |
| 2.5 小结 |
| 第3章 多普勒反射计在芯部物理研究中的应用 |
| 3.1 密度涨落与温度涨落相干结构测量 |
| 3.2 撕裂模 |
| 3.3 高约束模下本征测地声模 |
| 3.4 小结 |
| 第4章 东方超环上增强约束运行模式研究 |
| 4.1 增强约束运行模式研究历史及现状 |
| 4.1.1 增强约束运行模式研究历史 |
| 4.1.2 增强约束运行模式研究现状 |
| 4.2 东方超环上增强约束运行模式识别 |
| 4.2.1 宏观特征识别 |
| 4.2.2 微观扰动识别 |
| 4.2.3 东方超环上增强约束运行模式判断标准 |
| 4.3 东方超环上增强约束运行模式边界扰动分析 |
| 4.3.1 弱相干模与低频振荡观测 |
| 4.3.2 弱相干模分析 |
| 4.3.3 低频振荡本质 |
| 4.3.4 测地声模对增强约束运行模式影响 |
| 4.3.5 弱相干模、低频振荡与测地声模间非线性相互作用分析 |
| 4.3.6 边界径向电场势井 |
| 4.4 东方超环上增强约束运行模式统计分析 |
| 4.4.1 增强约束运行模式阈值及运行空间 |
| 4.4.2 加热方式 |
| 4.4.3 边界径向电场势井深度 |
| 4.4.4 能量约束时间 |
| 4.5 小结 |
| 第5章 总结与展望 |
| 5.1 工作总结 |
| 5.2 未来工作展望 |
| 参考文献 |
| 附录A 光路仿真程序设计 |
| 附录B 东方超环上增强约束运行模式运行数据库 |
| 致谢 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 |
（6）微波反射计在磁约束等离子体中的应用（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 磁约束聚变与微波反射计 |
| 1.1 磁约束聚变 |
| 1.2 EAST聚变装置 |
| 1.3 微波反射计发展历程以及研究现状 |
| 1.4 本文研究工作 |
| 第二章 EAST剖面反射计 |
| 2.1 微波与等离子体 |
| 2.2 微波反射计 |
| 2.2.1 频率调制连续波反射计 |
| 2.2.2 幅度调制反射计 |
| 2.2.3 脉冲雷达反射计 |
| 2.3 EAST剖面反射计设计方案 |
| 2.4 EAST剖面反射计硬件 |
| 2.4.1 基频部分设计 |
| 2.4.2 毫米波部分设计 |
| 2.4.3 采集系统设计 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 微波反射计的平台实验研究 |
| 3.1 反射计平台实验研究方法 |
| 3.1.1 平台实验原理 |
| 3.1.2 固态源校准 |
| 3.1.3 频谱分析方法 |
| 3.2 平台实验结果 |
| 3.2.1 反射计时间分辨率 |
| 3.2.2 空间分辨率与中频零点位置 |
| 3.2.3 改变反射板角度的测量结果 |
| 3.2.4 同轴延迟线长度优化 |
| 3.3 过模波导色散校准 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 反射计的数据处理与误差分析 |
| 4.1 反射计数据处理 |
| 4.1.1 时频分析方法 |
| 4.1.2 数字复解调方法 |
| 4.2 密度剖面反演方法 |
| 4.2.1 零点位置判断 |
| 4.2.2 双极化密度剖面反演 |
| 4.3 反射计误差分析 |
| 4.3.1 反射计空间分辨 |
| 4.3.2 密度剖面位置误差 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 微波反射计在托卡马克上的应用 |
| 5.1 EAST托卡马克高约束模下密度剖面测量 |
| 5.1.1 EAST微波反射计硬件 |
| 5.1.2 实验数据分析 |
| 5.2 零点位置判断以及左旋波现象 |
| 5.3 双极化反射计在EAST上第二轮实验 |
| 5.4 本章小结 |
| 第六章 总结和展望 |
| 6.1 研究工作总结 |
| 6.2 研究工作展望 |
| 参考文献 |
| 发表的学术论文 |
| 致谢 |
（8）上海大学微波与无线通信领域的科学研究（论文提纲范文）
| 1 微波与天线领域 |
| 1.1 多波段双极化共口径天线阵 |
| 1.1.1 双极化天线单元和阵列及极化捷变[14] |
| 1.1.2 S/X双波段双极化共口径天线阵[5-6] |
| 1.1.3 L/S/X三波段双极化共口径天线阵[7] |
| 1.1.4 介质谐振器天线双极化单元与双波段阵列[8] |
| 1.2 小型化和超宽带天线 |
| 1.2.1 UWB天线及阻带功能[9-13] |
| 1.2.2 极宽带天线及阻带功能[14-17] |
| 1.3 微波介质测量及其应用 |
| 1.3.1 高介电常数测量新技术一—开式腔测量技术 |
| 1.3.2 准光腔测量技术 |
| 1.3.3 隐身吸波涂料现场测量技术 |
| 1.3.4 工业、医学在线/在体监测技术 |
| 1.4 微波输能技术[18-23] |
| 1.4.1 整流二极管非线性实验研究[19] |
| 1.4.2 X波段管道机器人微波供能系统 |
| 1.4.3 C波段和X波段整流天线单元和阵列[20-23] |
| 1.5 计算电磁场 |
| 1.5.1 高阶时域有限差分(finite-difference time-domain,FDTD)(2,4)算法[24] |
| 1.5.2 含有集总电感区域的数值稳定性条件[25] |
| 1.5.3 用FDTD法分析非线性器件和整流电路[26] |
| 1.5.4 将遗传算法(genetic algorithm,GA)结合FDTD算法用于UWB天线的优化设计[10] |
| 2 通信信号处理领域 |
| 2.1 信道估计 |
| 2.1.1 盲信道估计 |
| 2.1.2 导频辅助信道估计 |
| 2.2 天线选择技术 |
| 2.2.1 空间复用系统中使用低复杂度接收机的发射天线选择 |
| 2.2.2 闭环空间复用系统中的发射天线选择 |
| 2.2.3 混合发射天线选择的最大率传输系统. |
| 2.3 盲均衡与盲多用户检测技术 |
| 2.4 ICI消除技术 |
| 2.5 多天线与协同通信技术[49-55] |
| 2.5.1 蜂窝系统容量及多天线技术[49-51] |
| 2.5.2 单向协同通信关键技术[52-53] |
| 3 无线通信领域 |
| 3.1 无线传感器网络 |
| 3.1.1 无线传感器网络生命期[56-57] |
| 3.1.2 无线传感器网络协议[58-59] |
| 3.2 甚小线性调频键控的类正弦无线通信 |
| 3.3 限定空间的无线电通信技术 |
| 4 结束语 |
（10）X波段微波吸收材料电磁参数扫频测量方法及系统（论文提纲范文）
| 一、前言 |
| 二、测试原理 |
| 三、测试系统 |
| 四、试样要求 |
| 1. 测试座选择 |
| 2. 基本要求 |
| 3.试样厚度d的考虑 |
| 五、测试结果 |
| 六、误差分析和估计 |
| 七、结论 |
四、X波段扫频反射计（论文参考文献）
- [1]微波网络分析技术新进展及其应用研究[D]. 田步宁. 西安电子科技大学, 2002(01)
- [2]V波段高距离分辨率探测组件[D]. 滕鹏. 南京信息工程大学, 2021(01)
- [3]隐身涂层微波反射率现场检测技术研究[D]. 张云鹏. 电子科技大学, 2019(04)
- [4]扫频技术[J]. Paul C. Ely. 电子管技术, 1972(03)
- [5]EAST装置上芯部多道多普勒反射计研制及增强约束运行模式（Ⅰ模）研究[D]. 冯喜. 中国科学技术大学, 2020(01)
- [6]微波反射计在磁约束等离子体中的应用[D]. 张重阳. 中国科学技术大学, 2014(10)
- [7]扫频X波段波导双六端口ANA研究[J]. 孙稼,曹江,张其劭. 电子学报, 1991(01)
- [8]上海大学微波与无线通信领域的科学研究[J]. 徐得名,钟顺时,陈惠民,方勇,杨雪霞,郑国莘,武卓,金彦亮. 上海大学学报(自然科学版), 2011(04)
- [9]微波无损检测技术发展现状和趋向[J]. 周在杞. 无损检测, 1984(03)
- [10]X波段微波吸收材料电磁参数扫频测量方法及系统[J]. 张其劭,孙稼,曹江. 宇航材料工艺, 1989(Z1)