一、CCD测试系统在马吕斯定律验证实验中的应用（论文文献综述）
王煦[1]（2021）在《基于数字剪切散斑干涉术的温度应力测量研究》文中提出温度应力测量长期以来都是现代测量领域中的重要课题,在许多领域都有着十分重要的应用场景。传统的温度应力测量方法存在诸多不足之处,或测量精度不高,或属于接触式测量,或结构复杂、可靠性差,无法很好地满足温度应力测量的需求。针对现有温度应力测量方法的不足,本文提出了一种基于数字剪切散斑干涉术（Digital shearing speckle pattern interferometry,DSSPI）的新型温度应力测量方法。相比现有的温度应力测量方法,该方法能够实现多个温度应力分量的实时、同时测量,同时具备非接触、全场测量、抗干扰能力强、测量精度高、自适应能力强等特点。本文的主要工作及创新如下:（1）针对现有温度应力测量方法无法同时满足实时、全场、多分量、非接触测量的问题,本文提出了一种新的基于数字剪切散斑干涉术的温度应力测量方法。该方法测量精度高,实时性好,能够在不接触被测物的条件下实现对温度应力场的实时全场测量,还能够同时对多个应变矩阵分量进行测量,从而获得被测物应力矩阵各对应分量。（2）针对传统剪切散斑干涉测量在面内测量过程中需要以对称角度多次照明、多次采集的缺点,本文改进了剪切散斑干涉面内测量系统的照明光路,提出了一种面内分量测量的新方法。经实验验证,本文提出的新方法在保持原有方法同等测量精度的基础上,实现了面内分量测量过程的实时化,保证了面内分量测量与离面分量测量的同步进行,无须多次采集,优化了测量光路,简化了测量流程。（3）在上述多分量温度应力测量系统的基础上,为了解决传统的沃拉斯顿棱镜在高功率照明光下的背景噪声问题,本文进一步优化了剪切干涉光路,提出了一种新的以罗歇棱镜为基础的剪切装置。经实验验证,使用罗歇棱镜改进后的离面分量测量系统的最大相对测量误差为4%,而传统的以沃拉斯顿棱镜作为剪切装置的离面分量测量系统其最大相对测量误差为6%,证明了该系统能够降低由剪切光路造成的噪声问题,提高棱镜剪切干涉装置在高功率激光下的稳定性,并提高多分量测量系统的测量精度。（4）在上述多分量温度应力测量系统的基础上,针对光学干涉测量过程中易受干扰的问题,本文提出了一种适用于多分量剪切干涉测量系统的外差调制装置。该装置以铌酸锂晶体为核心,利用了晶体的电光效应,能够同时对被调制光场的两个偏振方向进行调制,对于前述多分量测量系统具有较好的适应性。经实验验证,在由被测物振动造成的噪声条件下,测量离面位移梯度的最大相对误差能够从无外差调制时的140%降低到小于6%,这证明了该外差调制系统确实能够提高系统的抗干扰能力。
于淼[2]（2021）在《像素偏振片阵列的制备及性能研究》文中进行了进一步梳理偏振成像探测技术为特殊环境下提高对目标的探测能力提供了新的成像手段。根据偏振信息收集方式以及观测成像场景的不同,常用的偏振探测方法主要有分时偏振探测、分振幅偏振探测、分孔径偏振探测和分焦平面偏振探测。分焦平面型偏振探测方法是将不同偏振方向的4个像素级亚波长金属光栅组成的微偏振片阵列集成到相机的像元上,实现偏振成像探测系统的微型化。该方法具有系统稳定、结构简单、体积小、偏振性能好、能够实时偏振成像等优点。但是受到像元尺寸以及光栅的周期、线宽和制备工艺等约束,其消光比以及偏振探测的准确度有待进一步提高。本文针对分焦平面型亚波长金属光栅的制备及偏振性能进行了研究,在模拟仿真上,建立了不同结构参数的金属光栅模型,对金属光栅不同周期、高度、线宽以及氧化层厚度的透过率和消光比进行了模拟仿真,研究了结构参数和氧化层厚度对偏振性能的影响。在光栅制备上,分别采用电子束光刻技术和激光干涉光刻技术对像素级亚波长金属光栅偏振片阵列制备进行了研究,提出了超透镜增强激光干涉光刻技术制备像素级光栅阵列的方法,研究了网栅结构的形成机理,分析了制备过程中曝光参数对结构尺寸和形貌的影响。在性能测试上,针对制备的像素偏振片阵列在可见光波段设计并搭建了偏振性能测试系统,为分焦平面型亚波长金属光栅阵列的偏振性能提供了测试方法,测试并分析了制备得到的不同光栅方向像素偏振片阵列的偏振性能。论文研究了亚波长金属光栅偏振片选择透过性机理,利用FDTD Solutions数值仿真软件建立了Al金属光栅模型,研究了Al金属光栅不同结构参数（周期、高度、线宽）以及氧化层厚度的偏振特性。在300-700 nm波长范围内,仿真了光栅不同周期（100/140/170/200 nm）和高度（50/100/150/200 nm）的透过率和消光比,发现周期越小,TM透过率越高,消光比越大。考虑制备工艺条件,本文将针对周期为170 nm的亚波长Al金属光栅阵列进行研究。在170 nm周期的基础上,对不同的光栅高度进行了研究,综合考虑TM透过率和消光比的趋势,确定光栅高度为150 nm。研究了纯Al光栅不同线宽（60-110 nm和110.6-125.7 nm）的TM、TE透过率和消光比,结果表明,线宽越宽,TM透过率越低,消光比越大。当相邻线宽的差值为3-7 nm时,其透过率和消光比发生了明显的变化。研究了光栅不同氧化层厚度（4-12 nm）的透过率和消光比,发现与纯Al光栅相比,表层被氧化的Al金属光栅的偏振性能下降,并且偏振性能与氧化层厚度成反比。采用电子束曝光与感应耦合等离子刻蚀技术相结合的方法,在石英基底上制备得到了像素级分焦平面型亚波长Al金属光栅阵列。光栅方向分别为0°、45°、90°和135°,像元尺寸为6.4μm×6.4μm。研究了电子束曝光过程中邻近效应对结构的影响,实验中采用剂量校正和图形尺寸补偿的方式有效地避免了邻近效应导致的光栅结构过曝、粘连以及曝光不足等问题。研究了电子束曝光剂量变化对光栅结构特征尺寸的影响,发现电子束曝光剂量改变10μC/cm2,Al金属光栅结构的线宽发生3-7 nm的变化。另外,提出了一种超透镜增强激光干涉光刻技术高效制备Si光栅的方法。研究了网栅结构的形成机理,以及双光束直接激光干涉光刻不同曝光剂量和干涉光强对比度对结构形貌和特征尺寸的影响,通过单次曝光制备得到了Pt纳米网光栅、Pt光栅以及Si光栅结构。采用双光束直接激光干涉光刻技术,利用掩膜版制备得到了分焦平面型0°、45°、90°和135°方向Si光栅结构,可以应用在THz偏振探测系统中。针对制备得到的像素级亚波长金属光栅阵列,在可见光波段设计并搭建了偏振性能测试系统。由于本文中所制备的分焦平面型金属光栅的像元尺寸较小,并且同时存在4个方向的像素级亚波长金属光栅阵列,所以需要对各个像素单元不同方向的光栅结构分别进行测试。文中介绍了测试系统的组成部分和测试方法,并且基于偏振性能测试系统搭建了Do LP和Ao P的测试光路系统。测试结果表明,经过起偏器起偏的入射光的线偏振性非常好,可以认为是完全线偏振光。应用搭建的系统对制备的光栅结构进行了测试,研究了氧化时间对消光比的影响,验证了仿真结果的正确性,分析了测试结果与仿真结果存在差异的原因。
李朕阳[3]（2021）在《偏振交火航空验证关键技术研究》文中指出大气气溶胶的直接与间接影响被公认为是全球辐射平衡和气候变化的主要原因。由于大气粒子散射强偏振和弱光强的特性,偏振探测技术在气溶胶遥感领域得到了广泛应用。“偏振交火”利用同平台双偏振仪器协同观测,在大气气溶胶综合参数探测及反演方面具有明显优势。在星载遥感器发射前,开展航飞验证实验,对偏振交火关键技术进行有效验证,对于促进偏振交火技术的在轨实现具有重要意义。本文开展了偏振交火航空验证关键技术研究,主要包括星载偏振交火方案的误差敏感性分析、同平台双偏振仪器地理定位和校正方法以及偏振交叉定标方法等内容。具体来说,首先,根据星载偏振交火方案的测量原理和技术特点,对其误差敏感性进行了系统的分析,结合机载与星载的差异制定了航飞实验配置方案并搭建了航空验证系统;通过航空验证系统时间同步方法,消除了机载平台的姿态随机影响。其次,研究了同平台双偏振仪器地理定位和校正方法,通过坐标变换分别建立了观测像元与地理空间位置的对应模型,采用全球数字高程模型和仪器偏心校正对定位结果进行修正,分析了影响地理定位精度的误差源,建立了基于蒙特卡洛法的误差统计模型并完成仿真计算。仿真结果表明,飞行高度5000 m时POSP和SIPC定位精度约为25 m。最后,开展了双偏振仪器的实验验证研究,实验室条件下获取了双偏振仪器偏振和辐射定标系数,自然目标探测情况下完成了 POSP和CE318N的外场比对实验。实验结果表明,两台仪器的辐亮度一致性偏差小于4%,偏振度一致性偏差小于0.005,具有较好的一致性,验证了实验室定标数据的准确性。航飞实验数据结果表明,经偏振交叉定标后,陆地地表SIPC相对于POSP的辐亮度偏差均方根值为2.54%,偏振度偏差均方根值为0.013;海洋地表SIPC相对于POSP的辐亮度偏差均方根值为9.28%,偏振度偏差均方根为0.043,验证了双偏振仪器间交叉定标的可行性。本文的研究内容完成了偏振交火部分关键技术的前期验证,是偏振交火理论到在轨实践应用的重要环节,为星载仪器发射后的在轨应用效果预期评估提供了支撑。
黄禅[4]（2021）在《多角度偏振成像仪实验室定标方法研究》文中指出多角度偏振成像仪（DPC）是一款类法国POLDER设计的大视场星载偏振成像仪,它可以同时对大气辐射进行多光谱、多角度和偏振测量来表征大气气溶胶特征,从理论上最大限度地提升其观测对气溶胶特性的灵敏度。为了保证DPC测量的辐射偏振数据的准确性以及反演结果的可靠性,实验室定标是重要的一个环节。对于DPC这类大视场偏振成像仪,其实验室定标主要包含几何定标、辐射定标以及偏振定标等。杂散光校正虽然不属于定标的范畴,但为了提升DPC测量数据质量,有必要在实验室定标环节中开展杂散光校正的研究。除此之外,还需要对DPC定标后的性能尤其是线偏振度测量精度进行验证。本论文针对DPC实验室定标中的四个主要部分进行了深入的研究。几何定标方面,重新构建了 DPC的几何模型并提出了一种基于二维转台及欧拉变换的几何定标方法,消除了原有方法由于角度信息获取偏差而导致的定标误差。实验结果表明,该方法的最大拟合残差仅为2×10-1像元,优于原方法的3.5×10-1像元。辐射偏振定标方面,系统地介绍了 DPC实验室辐射定标及偏振定标的原理方法、使用的设备以及具体的定标流程。采用大口径积分球,光谱辐亮度计及二维转台进行了 DPC的辐射定标,获得了其绝对辐射定标系数以及全视场相对响应系数。对线性双向衰减、相对透过率及绝对方位角这三个参数的定标方法进行了改进升级。定标结果表明,与原有方法相比,由改进方法获得的线性双向衰减、相对透过率及绝对方位角的测试精度分别由±1%,±1.5%及相对方位角优于±0.1°提升到±0.4%,±0.4%及相对方位角优于±0.05°。杂散光校正方面,系统地分析了 DPC的杂散光特性。对于一类杂散光,设计了一种刃边法结合数学模型迭代优化的方式构建了 DPC各视场对应的杂散光扩散函数,提出了一种基于多视场杂散光扩散函数的反卷积方法。对于二类杂散光,将应用于线阵CCD的矩阵法改进为适用于面阵CCD的矩阵法,优化了杂散光矩阵的采集流程。实验结果表明,选定区域内的杂散光至少衰减了93%。线偏振度测量精度验证方面,模拟了噪声、杂散光以及偏振参数定标精度对DPC线偏振度测量的影响。在实验室环境下分别进行了基于大口径积分球的全视场无偏光偏振度验证实验以及基于偏振盒的多角度多偏振度验证实验。实验结果表明,使用优化后的参数反演获得的结果均更加接近偏振光源的设定值。这证明了改进的偏振定标方法获得的参数更加接近仪器的真实状态。此时,DPC三偏振波段全像面对无偏光的线偏振度测量结果与设定值的最大偏差分别为1.1×10-2、8.3×10-3以及9×10-3;DPC三偏振波段对部分偏振光的线偏振度测量结果与设定值的最大偏差分别为3.99×10-3、3.51×10-3以及4.97×10-3。
田文慧[5]（2021）在《集成偏振光传感器设计及其标定算法的研究》文中提出仿生偏振光导航是一种依赖于大自然中稳定的天空偏振分布模式的自主导航方式,具有抗干扰能力强、完全自主和误差不随时间累积等优点。现有的仿生偏振光导航传感器根据其感光元件的不同可分为光电二极管型和CMOS图像传感器（CIS）型。CIS型偏振光传感器由图像传感器、多通道偏振器和光学镜头组成,由于其瞬时视场误差较小,且每次可获得较多偏振信息,因此鲁棒性和适应性有更大的提升空间。但现有的CIS型偏振光传感器大多由图像传感器模块和开发板搭建而成,存在体积较大元器件冗余的问题;且由于制造工艺的限制,CIS光电转化偏差和金属纳米光栅的透射率偏差是影响传感器测角精度的主要因素,但现有的标定方法标定参数不够具体,鲁棒性和适应性有待提高。为解决上述问题,本文首先设计了一款集成化的CIS型偏振光导航传感器,主要由光学镜头、四方向金属纳米光栅、CIS和微控制单元（MCU）组成,传感器元器件集成度高、体积小、无元器件冗余;然后根据偏振光传感器各元器件的性能模型,提出了一种新的全参数标定方法,可对所有像素点位置金属纳米光栅米勒（Mueller）矩阵中的各个性能参数及CIS的增益和暗电流进行精确求解,从而达到标定的目的;并在此基础上根据传感器输出图像的数据特性提出了基于众数的有效区域提取算法,充分利用所有素区域中原始光强和消光比数据的统计规律提取出传感器的有效解算区域,从而剔除传感器感光面的缺陷区域和不均匀区域,降低传感器偏振角解算误差;最后搭建了室内外实验平台,并进行了传感器的室内外验证实验,证明了传感器性能及上述标定及区域提取算法的有效性。室内外实验结果表明,全参数标定算法能够精确求解出传感器的各性能参数,可有效提升传感器的偏振角解算精度和鲁棒性,且标定过程中获得的消光比图能够反映出原始光强图中无法表现出来的光栅缺陷,因此本文提出的基于消光比图和原始光强图众数的有效区域提取算法可以更加准确的剔除传感器感光面上的缺陷区域和被遮挡区域,进一步提升了偏振角解算精度。
余家华[6]（2020）在《穆勒矩阵椭偏仪残余应力检测分析方法的研究》文中认为各种透明的非晶及晶体材料由于其优异的光电及机械性能分别被广泛运用于精密光学检测系统和半导体集成电路等领域。残余应力会影响器件的性能及成品率,特别是随着集成度越来越高,材料尺寸越来越大,厚度越来越薄,应力集中的现象更普遍,材料破损的代价也越来越高,微小应力的影响更突出。因此,微小残余应力的检测对工艺优化、降低材料破损成本具有重要意义。但目前对微小残余应力的检测,缺少一种分辨力足够高且测量深度足够大的手段。穆勒矩阵椭偏仪是一种对材料特性很敏感的仪器。针对退火、抛光的透明样件内部的微小残余应力,本文研究了穆勒矩阵椭偏仪在透射模式下,实现残余应力检测和分析的方法。主要开展了以下工作:1)研究了穆勒矩阵椭偏仪测量残余应力的原理并建立了穆勒矩阵椭偏仪残余应力测量的方法及步骤,提出以应力‐光学定律为依据,通过样件椭偏光谱中心波长下的相位差计算被测点的残余应力。2)讨论并确立了穆勒矩阵椭偏仪透射模式下进行残余应力测量时被测样件以及样品台需要满足的条件,并以1/4波片为相位差标样、以空气为残余应力标样,初步验证穆勒矩阵椭偏仪测量相位差和残余应力的准确性。3)探究了影响椭偏仪残余应力测量的主要因素,并以双频激光干涉仪作为对比手段,比较分析了穆勒矩阵椭偏仪测量石英玻璃应力双折射相位差的测量结果,证明了穆勒矩阵椭偏仪残余应力测量的准确性。4)测量了各向同性玻璃的残余应力分布,通过径向加压法验证了椭偏仪测量各向异性蓝宝石残余应力的准确性并测量分析测试区域内的残余应力分布规律。结果发现:玻璃样品的应力呈现以圆心对称的直线分布,且中心几乎为0;在径向加压状态下,蓝宝石中心点处的相位差随着该点的主应力差增大而线性增大,且在径向压力所在的直径方向上各点相位差的绝对值随着主应力差的增大而增大,并呈二次曲线变化,在与之垂直的直径方向上的各点相位差的绝对值随着主应力差的增大而减小,也呈二次曲边线规律变化,与径向加压的理论相符;抛光蓝宝石在测试区域的残余应力分布均为压应力且分布较为均匀。实验证明,穆勒矩阵椭偏仪的残余应力分辨率达到1.79MPa/0.1°。
王梦迪[7]（2020）在《高分辨率磁光技术在超导薄膜磁场测量中的应用》文中研究表明超导材料具有独特的零电阻效应、迈斯纳效应和约瑟夫森效应,和三个相互关联的临界参数即临界温度、临界磁场和临界电流密度,在强、弱电领域均具有广阔的应用市场。以超导薄膜为代表的功能器件在微波通讯、微磁测量、量子技术等方面具有重要的工程应用价值和研究前景。这些超导薄膜器件通常运行在极低温、强磁场和高真空等极端环境,其电磁特征难以直接观测。一种用于磁场测量、基于法拉第效应的磁光成像技术因具有实时、全场、高分辨率、温度应用范围广和无损的优点,已经广泛应用于超导薄膜高角晶界、电流密度分布及磁通运动等热门领域的研究,取得了一系列重要的研究成果。由于超导材料没有法拉第效应,导致针对超导材料的磁光测量均借助Bi-YIG为代表的具有法拉第磁光效应的磁光介质（也称:磁光膜）放置在超导薄膜表面来实现磁场的观测。可以看出,磁光膜与超导层之间的距离直接决定了磁场测量的空间分辨率,而已有的磁光测量实验中均采用具有反射层的磁光膜,这样显然会降低实验的测试精度。本学位论文为了进一步提升磁场测量的精度,提出一种使用无反射层磁光膜的方式,并给出由于使用无反射层磁光膜带来的干涉条纹的消除办法。另外,由于磁光实验中磁场测量的准确性由磁光膜特征参数费尔德常数决定,已有的实验中均未考虑费尔德常数与温度的关系。但是本论文研究发现,实验温度的变化会影响费尔德常数的大小,所以采用不同温度的三转角标定实验给出了温度对费尔德常数的影响规律,并消除了对最终的磁场测量结果的影响。最后,由于超导材料服役环境的极端性,已有的实验很难原位地给出其电磁特性和变形测量,本论文提出了一种将数字图像相关法和磁光成像技术有机结合的方式,实现了超导材料磁场和变形的原位测量。现将本论文的主要工作概述如下:首先,本文提出使用无反射层的透明磁光膜代替传统磁光膜,缩短了磁光层与被测物体表面的距离,定性上提高了磁光成像技术的空间分辨率。于此同时,发现采用这种透明磁光膜的方法会带来一些影响实验结果分析的明暗条纹,提出采用连续波长拍摄的方法消除了这种在测试过程中产生的干涉条纹。然后,对于费尔德常数随温度发生变化的问题,本文提出了一种新的标定方法。首先,选择一些固定的实验温度,范围覆盖面较宽,既包括高于超导材料临界温度的情形,也要包含低于其临界温度的情形。在每一个选定的实验温度下,通过三转角标定法给出了温度升降对磁光膜磁场标定的影响规律,并最终获得了统一的磁场-灰度的标定方法,消除了温度对测试结果的影响。最后,将无反射层的磁光成像技术和数字图像相关技术联合,搭建了用于原位测量超导带材的拉伸应变和表面磁场的实验装置,并对不同温度的YBCO超导带材在低温拉伸以及外加磁场条件下进行观测。
钱思羽[8]（2020）在《用于扩展干涉仪的Shack-Hartmann波前探测技术研究》文中提出将Shack-Hartmann波前探测技术应用在扩展干涉仪的波前探测中,可以弥补现有干涉仪技术在特定情况下不能同时满足动态范围大、灵敏度高需求的不足。ShackHartmann波前传感器作为波前探测领域应用最为广泛的波前探测器之一,采用微透镜阵列对波面进行采样,定位各子光斑位置,通过各子光斑的偏移量计算局部的波前斜率,求解得出波前梯度值,实现波前复原。探测光斑位置是斜率计算的首要步骤,其探测的精准与否直接影响着波前探测的准确性,而波面复原的速度也直接关系着波前探测的实时性。然而,传感器的随机噪声和离散采样,不可避免地会对光斑偏移量的估计带来误差,降低斜率测量的准确度,进而影响探测波前的精度。因此,本文的研究目的就是寻求一种高精度大动态范围测量且可以瞬态检测的Shack-Hartmann波前探测技术,以扩展干涉仪的波前测量。本文的主要研究内容如下:首先确定了Shack-Hartmann波前探测技术扩展干涉仪波前探测的具体方案,设计并搭建扩展干涉仪波前探测的系统;接着综合Shack-Hartmann波前传感器中灵敏度与动态范围相互制约的问题,确定了Shack-Hartmann波前传感器参数,提高传感器性能;然后提出了一种改进的相关算法用以提高Shack-Hartmann波前传感器波前探测的精度。根据噪声的一般分布以及从图像暗背景统计的噪声均值与标准差获得阈值参数,从而保留主要光斑区域,分割出有效光斑。利用改进的相关算法对抑噪处理后的图像进行质心探测,精准定位光斑质心位置;最后采用基于GPU快速计算Zernike系数的方法,实现多个线程并发执行,达到瞬态复原波前图像的目的。通过仿真验证,本文提出的光斑质心探测算法其探测精度达到1/20像素,每个光斑质心探测速度达到了6.45μs（光斑半径是大小为3像素的圆,子孔径大小为24×24pixel）;本文提出的基于GPU加速波前重构的方法,其波前重构速度达到了10～12ms（1500个子光斑）;将Shack-Hartmann波前探测技术用于扩展干涉仪波前探测中,其扩展结果为:当动态范围低于或等于4.7λ时,选择干涉仪进行波前探测,当动态范围高于4.7λ时,选择Shack-Hartmann波前传感器进行波前探测,扩展干涉仪波前探测之后可测的动态范围最高可达到120λ（波长为633nm）,其波前探测的灵敏度高于1/50λ。
蒙春学[9]（2019）在《理管机机器视觉光源关键技术研究》文中研究表明机器视觉照明光源是机器视觉检测系统重要组成部分之一,在机器视觉领域有着举足轻重的地位。机器视觉检测具有稳定、高效、准确率高等优点,是一种非接触式的检测技术,在外观检测、尺寸测量、定位等方面广泛应用。随着半导体、计算机技术和硬件设备的发展,机器视觉检测技术应用越来越广泛,而机器视觉光源作为机器视觉检测技术的重要组成部分要求越来越高。因此研究机器视觉光源技术有重要的实用价值和意义。为此,本文以某理管机为研究对象,根据其机械结构、外界环境、被测目标特征和光学相关参数对其机器视觉光源系统进行综合分析研究,目的是设计出最优的理管机机器视觉光源结构,应用具有该光源结构的机器视觉检测系统对纱管进行识别分类,提高生产效率,降低成本。本文主要针对以下几部分进行展开:（1）首先,对机器视觉现状和国内外机器视觉光源设计结构、不同光源的机理以及相关领域概况进行调研和综述,并指出以往研究过程中忽略的问题和存在的不足之处,在此基础上确定了本论文的研究内容和研究方法。（2）然后,探究了机器视觉光源的各种照明方式,并对不同的光照方式进行实验模拟,掌握每一种照明方式的特点和用途。通过计算分析机器视觉光源系统中光源的光通量、光强度、光照度等光学参数与采集图像之间的关系,确定光源参数中影响图像采集和图像质量的参数。研究对比不同种类光源的性能特点,选择最优的光源类型作为机器视觉照明的光源。（3）其次,探究偏振片和漫射板两种光学辅助配件的基本参数、物理特性和作用。根据偏振片和漫射板的特点、用途和光学定律建立了不同的结构试验模型,在此实验基础上分析了机器视觉光源系统中偏振光和漫射板对机器视觉图像采集的影响规律,为视觉检测得到高质量的视频图像进行有意义的探索。（4）再次,分析研究光源颜色,探索不同颜色的光源之间的联系和区别,设计了机器视觉光源颜色检测实验,应用不同颜色的光源照明采集图像,总结了不同颜色光源对视觉检测系统的作用和重要性。（5）最后,针对某理管机机器视觉系统,考虑了光强度、打光方式、光学辅助配件、光源颜色和色温等特性参数,以采集到最佳质量的图像为目标,设计出机器视觉检测光源结构,并进行了模拟和整体实验,得到纱管的颜色RGB值,通过得到的实验RGB值和标准RGB值误差计算,验证了设计正确性。图63幅,表13个,参考文献67篇。
宋一平[10]（2019）在《基于条纹反射的手机玻璃盖板三维面形检测方法研究》文中研究表明随着电子产品的日益普及,各类电子显示屏的需求也在日益增长,相应的玻璃面板制造和检测需求也急速增长。面结构光三维测量法作为目前获取三维数据的主要方法之一,具有非接触、高精度、快速等优点,近些年关注度日益提高,应用领域已包含光学反射镜制造、半导体工业、抛光模具制造、手机外壳及其玻璃面板制造、人脸识别以及表面缺陷检测等领域,本论文主要研究基于条纹反射的手机玻璃盖板三维面形检测方法。论文的主要研究内容如下:1.基于条纹反射的手机玻璃面板三维面形检测方法理论分析详细分析了基于条纹反射的手机玻璃面板三维面形检测方法理论,并且对影响手机玻璃面板三维面形检测精度的主要因素进行了分析,提出了针对手机玻璃面板弧边部分的测量方法。2.基于条纹反射的手机玻璃面板面形检测方法研究针对手机玻璃面板面形检测方法进行详细的分析,提出了对于手机玻璃盖板弧边应使用较大条纹周期的正弦条纹进行照射,避免了因条纹被弧边压缩而提取到错误的相位分布,搭建了实验测量系统,并且针对提出的方法进行了相应的实验验证,实验结果证明了方法的有效性。3.镜面物体三维面形检测系统中多义性问题对条纹反射三维测量系统中多义性误差的产生原因以及消除方法进行了分析,并且介绍目前的研究现状,搭建了一种低多义性误差的实验系统,并且进行了实验验证,实验结果表明了方法的有效性。4.玻璃面板缺陷检测中剔除灰尘影响的方法研究对工业检测中进行手机玻璃盖板缺陷检测时,表面灰尘将会影响缺陷检测的原因进行了分析,提出了一种可以有效去除灰尘影响的玻璃面板缺陷检测方法,搭建了测量系统,并且对该方法进行了相应的实验验证,实验结果证明了方法的有效性。
二、CCD测试系统在马吕斯定律验证实验中的应用（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、CCD测试系统在马吕斯定律验证实验中的应用（论文提纲范文）
（1）基于数字剪切散斑干涉术的温度应力测量研究（论文提纲范文）
| 致谢 |
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 1 绪论 |
| 1.1 研究背景 |
| 1.1.1 传统温度应力检测方法 |
| 1.1.2 剪切散斑干涉术的发展历程 |
| 1.2 研究内容与论文结构安排 |
| 1.2.1 研究目标 |
| 1.2.2 研究内容 |
| 1.2.3 论文结构安排 |
| 2 剪切散斑干涉术的理论与有关技术 |
| 2.1 剪切散斑干涉术的光学原理 |
| 2.2 离面分量测量与面内分量测量 |
| 2.2.1 离面分量测量:垂直照明 |
| 2.2.2 面内分量测量:双光束照明 |
| 2.3 散斑干涉图样的图像处理算法 |
| 2.3.1 逆谐波均值滤波器 |
| 2.3.2 低通滤波器 |
| 2.4 相位复原算法 |
| 2.4.1 四步移相算法 |
| 2.4.2 傅里叶相位复原算法 |
| 2.5 本章小结 |
| 3 剪切装置改进与剪切量分析 |
| 3.1 剪切装置 |
| 3.1.1 迈克尔逊干涉仪 |
| 3.1.2 剪切棱镜:沃拉斯顿棱镜与罗歇棱镜 |
| 3.1.3 对比实验 |
| 3.2 剪切量 |
| 3.3 本章小结 |
| 4 剪切散斑的温度应力测量 |
| 4.1 应力与温度应力的基本概念 |
| 4.1.1 应力与应变 |
| 4.1.2 温度应力与热传导方程 |
| 4.2 测量系统 |
| 4.2.1 光学系统 |
| 4.2.2 热载荷施加装置 |
| 4.3 实验数据与分析 |
| 4.3.1 有限元模型与理论值计算 |
| 4.3.2 数据分析 |
| 4.4 本章小结 |
| 5 剪切散斑的多分量测量系统 |
| 5.1 多分量测量原理 |
| 5.1.1 传统多分量测量方法 |
| 5.1.2 改进后的多分量同时测量系统 |
| 5.2 实验装置与测量结果 |
| 5.2.1 多分量测量系统的实验装置 |
| 5.2.2 实验结果 |
| 5.3 面内分量测量与传统方法的对比 |
| 5.4 本章小结 |
| 6 剪切散斑的多分量外差调制系统 |
| 6.1 电光调制器的基本原理 |
| 6.1.1 铌酸锂的电光效应 |
| 6.1.2 铌酸锂电光调制器 |
| 6.2 剪切散斑干涉中的外差调制 |
| 6.2.1 剪切外差干涉的理论分析 |
| 6.2.2 实验装置与测量结果 |
| 6.2.3 外差调制效果对比实验 |
| 6.3 多波长外差调制 |
| 6.3.1 实验装置 |
| 6.3.2 结果与分析 |
| 6.4 本章小结 |
| 7 总结与展望 |
| 7.1 全文总结 |
| 7.2 本文的创新性 |
| 7.3 工作展望 |
| 参考文献 |
| 作者简历及攻读博士学位期间取得的研究成果 |
| 学位论文数据集 |
（2）像素偏振片阵列的制备及性能研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 选题背景及研究的目的和意义 |
| 1.1.1 选题背景 |
| 1.1.2 研究的目的和意义 |
| 1.2 偏振探测简介 |
| 1.3 像素偏振片亚波长金属光栅制备技术研究进展 |
| 1.3.1 模拟仿真技术 |
| 1.3.2 像素偏振片亚波长金属光栅制备技术 |
| 1.3.3 像素偏振片亚波长金属光栅制备研究现状 |
| 1.3.4 图像校正研究 |
| 1.4 论文的主要内容 |
| 第2章 偏振成像的基本理论 |
| 2.1 光的偏振理论 |
| 2.1.1 光的偏振 |
| 2.1.2 光偏振态的描述方法 |
| 2.1.3 光的偏振矩阵 |
| 2.2 亚波长金属光栅的基本原理 |
| 2.3 表面等离子激元原理 |
| 2.3.1 表面等离子激元的激发 |
| 2.3.2 表面等离子激元的色散关系 |
| 2.3.3 表面等离子激元的特征长度 |
| 2.4 本章小结 |
| 第3章 亚波长金属光栅偏振性能仿真 |
| 3.1 亚波长金属光栅仿真模型建立 |
| 3.1.1 亚波长金属光栅仿真方法简介 |
| 3.1.2 金属光栅设计和仿真参数设定 |
| 3.2 纯Al光栅线宽对偏振性能的影响 |
| 3.3 Al光栅氧化层厚度及线宽对偏振性能的影响 |
| 3.4 本章小结 |
| 第4章 像素偏振片阵列的制备研究 |
| 4.1 电子束光刻技术制备像素光栅阵列 |
| 4.1.1 电子束光刻技术简介 |
| 4.1.2 像素级亚波长金属光栅制备工艺 |
| 4.1.3 电子束曝光剂量对金属光栅线宽的影响 |
| 4.2 超透镜增强激光干涉光刻技术制备像素光栅阵列 |
| 4.2.1 激光干涉光刻简介 |
| 4.2.2 超透镜增强激光干涉光刻工艺研究 |
| 4.2.3 像素级Si光栅阵列的制备 |
| 4.3 本章小结 |
| 第5章 像素偏振片光栅阵列性能测试与分析 |
| 5.1 偏振性能测试系统设计与搭建 |
| 5.1.1 测试系统的设计 |
| 5.1.2 测试系统的搭建 |
| 5.1.3 测试系统DoLP和 AoP的测量 |
| 5.2 像素偏振片光栅阵列偏振性能测试 |
| 5.2.1 数据采集方法 |
| 5.2.2 偏振性能测试 |
| 5.3 像素偏振片光栅偏振性能测试结果及分析 |
| 5.3.1 不同线宽像素级亚波长金属光栅偏振性能测试结果 |
| 5.3.2 氧化时间对偏振性能的影响 |
| 5.3.3 偏振性能测试结果与仿真结果差异分析 |
| 5.4 本章小结 |
| 第6章 结论与展望 |
| 6.1 结论及创新点 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 |
| 致谢 |
（3）偏振交火航空验证关键技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.2 偏振遥感技术发展现状 |
| 1.2.1 星载偏振遥感技术发展现状 |
| 1.2.2 机载偏振遥感技术发展现状 |
| 1.3 多载荷多手段综合探测 |
| 1.4 本论文研究的必要性 |
| 1.5 本论文的研究内容 |
| 第2章 偏振交火原理及系统验证需求分析 |
| 2.1 偏振交火技术工作原理 |
| 2.1.1 偏振交火遥感器测量原理 |
| 2.1.2 偏振交火关键技术 |
| 2.2 偏振交火误差敏感性分析 |
| 2.3 机载验证系统验证目标及需求分析 |
| 2.3.1 机载验证系统验证目标 |
| 2.3.2 机载验证系统需求分析 |
| 2.4 机载平台配置要素 |
| 2.4.1 差异性 |
| 2.4.2 可验证性 |
| 2.5 本章小结 |
| 第3章 偏振交火航空验证系统 |
| 3.1 同平台偏振仪器 |
| 3.1.1 高精度偏振扫描仪 |
| 3.1.2 同时偏振相机 |
| 3.1.3 数据预处理方法 |
| 3.2 航空验证平台电控系统设计 |
| 3.2.1 数据采集与控制单元 |
| 3.2.2 姿态位置测量单元 |
| 3.2.3 热控方案设计 |
| 3.2.4 采集软件设计 |
| 3.2.5 工作流程设计 |
| 3.2.6 时统方案设计 |
| 3.3 空间响应一致性设计 |
| 3.3.1 SIPC图像配准 |
| 3.3.2 基于空间响应的POSP与SIPC视场匹配 |
| 3.4 实验室定标 |
| 3.4.1 POSP实验室定标 |
| 3.4.2 SIPC实验室定标 |
| 3.5 本章小结 |
| 第4章 同平台偏振仪器地理定位方法研究 |
| 4.1 POS辅助航空定位基本原理 |
| 4.1.1 POS系统概述 |
| 4.1.2 POS系统测量原理 |
| 4.2 相关坐标系及其转换 |
| 4.2.1 相关坐标系 |
| 4.2.2 坐标系之间的转换 |
| 4.3 SIPC几何标定 |
| 4.4 同平台双偏振仪器地理定位及校正方法 |
| 4.5 地理定位精度分析 |
| 4.5.1 地理定位主要误差源 |
| 4.5.2 地理定位误差模型 |
| 4.5.3 地理定位误差仿真 |
| 4.6 本章小结 |
| 第5章 同平台偏振仪器实验验证研究 |
| 5.1 地面验证试验 |
| 5.1.1 实验设置 |
| 5.1.2 光谱匹配 |
| 5.1.3 数据比对 |
| 5.1.4 偏差分析 |
| 5.2 机载验证试验 |
| 5.2.1 实验情况 |
| 5.2.2 地理定位及空间响应验证 |
| 5.2.3 交叉定标验证 |
| 5.3 本章小结 |
| 第6章 总结与展望 |
| 6.1 论文工作的总结 |
| 6.2 论文的创新点 |
| 6.3 展望 |
| 参考文献 |
| 附录 英文简写 |
| 致谢 |
| 在读期间发表的学术论文 |
（4）多角度偏振成像仪实验室定标方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.1.1 气溶胶遥感 |
| 1.1.2 多角度偏振成像仪 |
| 1.2 课题研究现状 |
| 1.2.1 国内外研究现状 |
| 1.2.2 课题组研究现状 |
| 1.3 论文的意义及内容 |
| 1.3.1 论文的研究意义 |
| 1.3.2 论文的研究内容 |
| 第2章 DPC几何定标 |
| 2.1 相机成像模型 |
| 2.1.1 坐标系系统及坐标系转换 |
| 2.1.2 相机的内参及外参 |
| 2.1.3 畸变 |
| 2.2 相机几何定标方法 |
| 2.2.1 几何定标方法的分类 |
| 2.2.2 经典的几何定标方法——棋盘法 |
| 2.3 DPC几何定标方法 |
| 2.3.1 DPC成像几何模型 |
| 2.3.2 基于二维转台的大视场成像仪几何定标方法 |
| 2.3.3 入射光角度信息修正及定标方法优化 |
| 2.4 实验室几何定标实验 |
| 2.4.1 几何定标实验流程 |
| 2.4.2 443nm通道定标结果分析 |
| 2.4.3 各通道几何定标结果及总视场 |
| 2.5 本章小结 |
| 第3章 DPC辐射偏振定标 |
| 3.1 DPC偏振辐射模型 |
| 3.1.1 Stokes矢量和Mueller矩阵 |
| 3.1.2 非偏振通道偏振辐射模型 |
| 3.1.3 偏振通道偏振辐射模型 |
| 3.2 DPC实验室辐射定标方法 |
| 3.2.1 绝对辐射定标系数 |
| 3.2.2 全视场相对响应系数 |
| 3.3 DPC实验室偏振定标关键参数方法优化 |
| 3.3.1 线性双向衰减系数非对称性及修正 |
| 3.3.2 绝对方位角高精度定位 |
| 3.3.3 相对透过率非一致性及校正 |
| 3.4 本章小结 |
| 第4章 DPC杂散光校正 |
| 4.1 DPC杂散光分析 |
| 4.1.1 一类杂散光 |
| 4.1.2 二类杂散光 |
| 4.2 DPC一类杂散光校正 |
| 4.2.1 杂散光扩散函数的获取 |
| 4.2.2 局部杂光校正方法 |
| 4.3 DPC二类杂散光校正 |
| 4.3.1 一维矩阵校正算法 |
| 4.3.2 二维矩阵校正算法 |
| 4.3.3 杂散光系数矩阵构建方案 |
| 4.4 DPC杂散光校正实验 |
| 4.4.1 一类杂散光校正实验 |
| 4.4.2 二类杂散光校正实验 |
| 4.5 本章小结 |
| 第5章 DPC线偏振度测量精度验证 |
| 5.1 DPC线偏振度测量建模分析 |
| 5.2 测量误差对DPC线偏振度测量的影响 |
| 5.2.1 噪声对DPC线偏振度测量的影响 |
| 5.2.2 杂散光对DPC线偏振度测量的影响 |
| 5.3 参数定标误差对DPC线偏振度测量的影响 |
| 5.3.1 线性双向衰减定标误差 |
| 5.3.2 相对透过率定标误差 |
| 5.3.3 绝对方位角定标误差 |
| 5.4 DPC线偏振度测量精度验证实验 |
| 5.4.1 基于大口径积分球的零偏振度验证 |
| 5.4.2 基于偏振盒的多角度多偏振度验证 |
| 5.5 本章小结 |
| 第6章 总结与展望 |
| 6.1 论文工作总结 |
| 6.2 论文创新点 |
| 6.3 工作展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 |
（5）集成偏振光传感器设计及其标定算法的研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 1 绪论 |
| 1.1 课题背景及意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 大气偏振及仿生导航机理 |
| 1.2.2 偏振光导航传感器 |
| 1.3 课题基础与意义 |
| 1.4 本文研究内容 |
| 2 偏振光传感器导航原理 |
| 2.1 偏振光及大气偏振模式 |
| 2.2 偏振光传感器导航原理 |
| 2.3 偏振角解算原理 |
| 2.3.1 基于马吕斯定律的偏振角求解方法 |
| 2.3.2 基于Stokes矢量的偏振角求解方法 |
| 2.4 本章小结 |
| 3 偏振光导航传感器系统设计 |
| 3.1 偏振光传感器结构设计 |
| 3.2 偏振光传感器的集成硬件系统设计 |
| 3.2.1 电源及电平转换模块设计 |
| 3.2.2 硬件接口设计 |
| 3.2.3 PCB板设计 |
| 3.3 偏振光传感器的嵌入式软件系统设计 |
| 3.3.1 传感器功能设计 |
| 3.3.2 传感器初始化 |
| 3.3.3 传感器信息输出 |
| 3.4 本章小结 |
| 4 偏振光导航传感器标定算法 |
| 4.1 传统标定算法 |
| 4.2 全参数标定算法 |
| 4.3 基于众数的区域提取算法 |
| 4.4 本章小结 |
| 5 实验结果与分析 |
| 5.1 实验平台搭建及实验设计 |
| 5.1.1 室内实验平台搭建及实验设计 |
| 5.1.2 室外实验平台搭建及实验设计 |
| 5.2 全参数标定算法实验 |
| 5.2.1 传感器性能参数分析 |
| 5.2.2 室内测试实验结果分析 |
| 5.2.3 室外测试实验结果分析 |
| 5.3 基于众数的区域提取算法实验 |
| 5.3.1 室内测试实验结果分析 |
| 5.3.2 室外测试实验结果分析 |
| 5.4 本章小结 |
| 结论 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 |
| 致谢 |
（6）穆勒矩阵椭偏仪残余应力检测分析方法的研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 课题来源 |
| 1.2 课题背景及意义 |
| 1.3 透明样件残余应力检测方法研究现状 |
| 1.3.1 有损检测方法研究现状 |
| 1.3.2 无损检测方法研究现状 |
| 1.4 课题主要研究工作 |
| 第2章 椭偏仪残余应力测量的理论基础 |
| 2.1 偏振光与马吕斯定律 |
| 2.2 光的双折射效应 |
| 2.3 应力-光学定律 |
| 2.4 椭偏仪测量原理 |
| 2.5 本章小结 |
| 第3章 椭偏仪残余应力测量方法 |
| 3.1 双旋转补偿器型穆勒矩阵椭偏仪介绍 |
| 3.2 椭偏仪残余应力测量原理 |
| 3.3 椭偏仪残余应力透射测量的条件 |
| 3.3.1 样品台需要具备的条件 |
| 3.3.2 样件需要具备的条件 |
| 3.4 椭偏仪残余应力测量步骤 |
| 3.5 标样验证实验 |
| 3.5.1 相位差标样验证实验 |
| 3.5.2 应力标样验证实验 |
| 3.6 本章小结 |
| 第4章 各向同性玻璃的残余应力测量 |
| 4.1 椭偏仪玻璃残余应力测量的影响因素 |
| 4.1.1 测量点定位孔的孔径大小对测量结果的影响探究 |
| 4.1.2 测量方位角对测量结果的影响探究 |
| 4.2 玻璃残余应力椭偏仪&双频激光干涉仪对比测量 |
| 4.2.1 样品信息及测量方案 |
| 4.2.2 测量结果对比及误差分析 |
| 4.3 石英玻璃残余应力平面分布分析 |
| 4.4 本章小结 |
| 第5章 各向异性蓝宝石的残余应力测量 |
| 5.1 蓝宝石的结构和性质 |
| 5.2 蓝宝石中心径向加压实验 |
| 5.2.1 径向加压装置的结构设计 |
| 5.2.2 蓝宝石径向加压测量 |
| 5.3 蓝宝石衬底残余应力测量 |
| 5.4 本章小结 |
| 第6章 总结与展望 |
| 6.1 本文总结 |
| 6.2 创新之处 |
| 6.3 工作展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 |
（7）高分辨率磁光技术在超导薄膜磁场测量中的应用（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 超导材料特性及其应用 |
| 1.2 磁光技术在超导材料磁场测量中的应用及其存在的问题 |
| 1.3 数字图像相关法原理及其应用 |
| 1.4 本文主要研究内容 |
| 第二章 无反射层磁光观测系统标定方法 |
| 2.1 实验装置及原理 |
| 2.2 干涉效应对磁光测试的影响及其改进方法 |
| 2.3 温度效应对磁光标定的影响及其修正方法 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 超导带材原位的磁场-应变测试方法 |
| 3.1 磁光法-数字图像相关法结合的测试原理 |
| 3.2 拉伸应变状态下YBCO带材磁场-应变的原位测量结果 |
| 3.3 本章小结 |
| 第四章 总结与展望 |
| 4.1 总结 |
| 4.2 展望 |
| 参考文献 |
| 在学期间的研究成果 |
| 致谢 |
（8）用于扩展干涉仪的Shack-Hartmann波前探测技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 研究目的与意义 |
| 1.2 波前探测技术的国内外现状分析 |
| 1.3 主要研究内容和章节安排 |
| 第2章 扩展干涉仪的Shack-Hartmann波前探测的方案设计 |
| 2.1 扩展干涉仪波前探测的方案设计 |
| 2.1.1 扩展干涉仪波前探测系统的光学元件组成 |
| 2.1.2 扩展干涉仪波前探测的步骤 |
| 2.2 扩展干涉仪波前探测的原理 |
| 2.2.1 斐索干涉测量原理 |
| 2.2.2 Shack-Hartmann波前探测技术的基本原理 |
| 2.3 Shack-Hartmann波前传感器的参数确定 |
| 2.3.1 评价Shack-Hartmann波前传感器性能的指标 |
| 2.3.2 Shack-Hartmann波前传感器的参数确定 |
| 2.4 本章小节 |
| 第3章 Shack-Hartmann波前探测技术 |
| 3.1 波前探测中的误差与标定 |
| 3.1.1 波前探测误差 |
| 3.1.2 参考光斑质心的标定 |
| 3.1.3 微透镜焦距标定 |
| 3.2 改进的相关算法探测光斑质心 |
| 3.2.1 抑噪预处理 |
| 3.2.2 改进的相关算法 |
| 3.2.4 抑噪预处理方法验证 |
| 3.2.5 改进的相关法算法验证 |
| 3.3 加速波前重构的方法 |
| 3.3.1 GPU求解Zernike系数 |
| 3.3.2 GPU计算波前图像 |
| 3.3.3 加速波前重构算法验证 |
| 3.4 本章小节 |
| 第4章 实验结果与数据分析 |
| 4.1 扩展干涉仪波前探测的标定实验 |
| 4.1.1 参考光斑质心的标定 |
| 4.1.2 微透镜有效焦距的标定 |
| 4.2 扩展干涉仪波前探测的效果验证 |
| 4.3 实验误差分析 |
| 4.4 本章小节 |
| 第5章 总结与展望 |
| 5.1 本文主要研究内容 |
| 5.2 展望 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和研究成果清单 |
| 致谢 |
（9）理管机机器视觉光源关键技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 1 绪论 |
| 1.1 机器视觉光源系统概述 |
| 1.2 照明光源在机器视觉领域的发展现状 |
| 1.2.1 国内机器视觉光源的发展现状 |
| 1.2.2 国外机器视觉光源的发展现状 |
| 1.3 理管机机器视觉光源要求 |
| 1.4 课题背景和本文研究的意义 |
| 1.5 本文主要研究内容 |
| 2 机器视觉照明系统关键参数研究 |
| 2.1 机器视觉光源照明方式 |
| 2.2 光源关键参数计算 |
| 2.2.1 光通量计算 |
| 2.2.2 发光强度计算 |
| 2.2.3 光照强度计算 |
| 2.3 光源的关键特性 |
| 2.3.1 光源的光色特性 |
| 2.3.2 光源的种类及应用 |
| 2.4 本章小结 |
| 3 光源系统辅助光学配件实验 |
| 3.1 偏振光 |
| 3.2 偏振光在机器视觉中应用 |
| 3.2.1 偏振片实验研究 |
| 3.2.2 偏振片实验小结 |
| 3.3 漫射板应用 |
| 3.3.1 漫射板工作原理 |
| 3.3.2 漫射板选择 |
| 3.4 本章小结 |
| 4 机器视觉LED光源实验研究 |
| 4.1 LED光谱理论基础 |
| 4.2 光源颜色 |
| 4.3 色温 |
| 4.4 LED光谱实验研究 |
| 4.5 实验总结 |
| 4.6 本章小结 |
| 5 理管机图像采集LED光源结构设计 |
| 5.1 理管机的光源系统方案 |
| 5.1.1 光源结构设计 |
| 5.1.2 光源及控制器选用 |
| 5.1.3 色温控制器 |
| 5.2 LED照射模型 |
| 5.2.1 LED光源光通量计算 |
| 5.2.2 LED光源光路 |
| 5.2.3 单个条形LED光路模拟仿真及照度分析 |
| 5.2.4 双条形LED光路模拟仿真及照度分析 |
| 5.3 理管机LED光源实验 |
| 5.4 本章小结 |
| 6 总结与展望 |
| 6.1 总结 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 攻读学位期间发表学术论文清单 |
| 致谢 |
（10）基于条纹反射的手机玻璃盖板三维面形检测方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究目的与意义 |
| 1.2 手机玻璃盖板面形检测和缺陷检测的研究现状 |
| 1.2.1 手机玻璃盖板面形检测方法 |
| 1.2.2 手机玻璃盖板缺陷检测方法 |
| 1.3 结构光测量技术的研究现状 |
| 1.4 本文主要研究内容 |
| 1.5 本章小结 |
| 第二章 基于条纹反射的玻璃面板三维面形检测方法理论分析 |
| 2.1 基于条纹反射的手机玻璃面板三维面形检测原理 |
| 2.2 基于条纹反射的手机玻璃面板三维面形检测精度分析 |
| 2.3 本章小结 |
| 第三章 玻璃面板面形检测方法研究 |
| 3.1 基于条纹反射的手机玻璃面板面形检测方法分析 |
| 3.1.1 基于条纹反射的手机玻璃面板面形检测标定方法分析 |
| 3.1.2 基于条纹反射的手机玻璃面板面形检测相位提取方法分析 |
| 3.1.3 基于条纹反射的手机玻璃面板面形检测积分方法分析 |
| 3.2 基于条纹反射的手机玻璃面板面形检测的实验研究 |
| 3.2.1 实验系统设计 |
| 3.2.2 实验结果分析 |
| 3.3 本章小结 |
| 第四章 镜面物体三维面形检测系统中多义性问题 |
| 4.1 镜面物体三维面形检测系统中多义性的产生及消除方法研究 |
| 4.1.1 多义性误差产生原因 |
| 4.1.2 多义性误差消除方法 |
| 4.2 一种低多义性误差的系统的实验研究 |
| 4.3 本章小结 |
| 第五章 玻璃面板缺陷检测中剔除灰尘影响的方法研究 |
| 5.1 玻璃面板面形及缺陷检测中剔除灰尘影响的方法分析 |
| 5.2 玻璃面板面形及缺陷检测中剔除灰尘影响的方法研究 |
| 5.2.1 基于条纹反射技术同时检测缺陷和灰尘 |
| 5.2.2 灰尘检测 |
| 5.2.3 去除灰尘并且保留缺陷 |
| 5.3 玻璃面板缺陷检测中剔除灰尘影响的方法研究 |
| 5.4 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 本文研究内容总结 |
| 6.2 后续工作展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻硕期间取得的研究成果 |
四、CCD测试系统在马吕斯定律验证实验中的应用（论文参考文献）
- [1]基于数字剪切散斑干涉术的温度应力测量研究[D]. 王煦. 北京交通大学, 2021(02)
- [2]像素偏振片阵列的制备及性能研究[D]. 于淼. 长春理工大学, 2021
- [3]偏振交火航空验证关键技术研究[D]. 李朕阳. 中国科学技术大学, 2021(09)
- [4]多角度偏振成像仪实验室定标方法研究[D]. 黄禅. 中国科学技术大学, 2021(09)
- [5]集成偏振光传感器设计及其标定算法的研究[D]. 田文慧. 大连理工大学, 2021
- [6]穆勒矩阵椭偏仪残余应力检测分析方法的研究[D]. 余家华. 华侨大学, 2020
- [7]高分辨率磁光技术在超导薄膜磁场测量中的应用[D]. 王梦迪. 兰州大学, 2020(01)
- [8]用于扩展干涉仪的Shack-Hartmann波前探测技术研究[D]. 钱思羽. 长春理工大学, 2020(01)
- [9]理管机机器视觉光源关键技术研究[D]. 蒙春学. 西安工程大学, 2019(02)
- [10]基于条纹反射的手机玻璃盖板三维面形检测方法研究[D]. 宋一平. 电子科技大学, 2019(01)